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    On error modeling of electrical bugs for post-silicon timing validation
    Gao, Ming ; Lisherness, Peter ; et al.
    In: 17th Asia and South Pacific Design Automation Conference, 2012, S. 701-706
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Bug localization techniques for effective post-silicon validation
    Mitra, Subhasish ; Lin, David ; et al.
    In: 17th Asia and South Pacific Design Automation Conference, 2012, S. 291-291
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A formal approach to debug polynomial datapath designs
    Alizadeh, Bijan
    In: 17th Asia and South Pacific Design Automation Conference, 2012, S. 683-688
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Post-silicon patching for verification/debugging with high-level models and programmable logic
    Fujita, Masahiro ; Yoshida, Hiroaki
    In: 17th Asia and South Pacific Design Automation Conference, 2012, S. 232-237
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Optimizing test-generation to the execution platform
    Nahir, Amir ; Ziv, Avi ; et al.
    In: 17th Asia and South Pacific Design Automation Conference, 2012, S. 304-309
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Clock rescheduling for timing engineering change orders
    Ho, Kuan-Hsien ; Shih, Xin-Wei ; et al.
    In: 17th Asia and South Pacific Design Automation Conference, 2012, S. 517-522
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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