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  1. In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005
    Konferenz
  2. In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 1-1
    Konferenz
  3. In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 1
    Konferenz
  4. In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 7
    Konferenz
  5. Huang, Shih-Hsu ; Lu, Feng-Pin ; et al.
    In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 59-62
    Konferenz
  6. Lie, D.Y.C. ; Lee, P. ; et al.
    In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 161-164
    Konferenz
  7. Tu, Chih-Ho ; Juang, Ying-Zong ; et al.
    In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 169-172
    Konferenz
  8. Sangiovanni-Vincentelli, A.
    In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 1-5
    Konferenz
  9. Yang, Kai ; Wang, L.C. ; et al.
    In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 8-11
    Konferenz
  10. Yang, Ya-Ching ; Huang, Juinn-Dar ; et al.
    In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 12-15
    Konferenz
  11. Sum, Ming-Yi ; Chang, Kai-Shuang ; et al.
    In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 16-19
    Konferenz
  12. Smyth, N. ; McLoone, M. ; et al.
    In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 29-32
    Konferenz
  13. Su, Chin-Lung ; Huang, Rei-Fu ; et al.
    In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 20-23
    Konferenz
  14. Tanba, H. ; Yamada, Y. ; et al.
    In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 33-36
    Konferenz
  15. Cheng, Kuo-Hsing ; Jiang, Shu-Yu
    In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 24-27
    Konferenz
  16. Jeang, Yuan-Long ; Chen, Liang-Bi ; et al.
    In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 37-40
    Konferenz
  17. Cheng, Chin-Tzung ; Chiao, Wei-Hau ; et al.
    In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 41-44
    Konferenz
  18. Haratsch, E.F.
    In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 45-48
    Konferenz
  19. Mak, Wai-Kei
    In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 67-70
    Konferenz
  20. Jheng, Kai-Yuan ; Wu, Tsung-Han ; et al.
    In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 49-52
    Konferenz
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