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  1. Sansen, Willy
    In: 2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2008-04-01, S. 1
    Konferenz
  2. Chang, Hsiang-Hui ; Lee, Shang-Ming ; et al.
    In: 2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2008-04-01, S. 9
    Konferenz
  3. Chao, Soul-Yu ; Yang, Ching-Yuan
    In: 2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2008-04-01, S. 247
    Konferenz
  4. Tsai, Kun-Hung ; Liu, Shen-Iuan
    In: 2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2008-04-01, S. 113
    Konferenz
  5. Cheng, Jia-Lung ; Wang, Chao-Shiun ; et al.
    In: 2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2008-04-01, S. 117
    Konferenz
  6. Lee, Tsung-Sum ; Lu, Chi-Chang ; et al.
    In: 2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2008-04-01, S. 144
    Konferenz
  7. Chen, Luis ; Patrick Yue, C.
    In: 2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2008-04-01, S. 243
    Konferenz
  8. Kong, Zhi-Hui ; Tan, Jun-Jie ; et al.
    In: 2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2008-04-01, S. 275
    Konferenz
  9. Huang, Chien-Tsung ; Chen, Chung-Chun ; et al.
    In: 2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2008-04-01, S. 47
    Konferenz
  10. Dae Hyun Kwon ; Li, Hao ; et al.
    In: 2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2008-04-01, S. 184
    Konferenz
  11. Jang, Sheng-Lyang ; Chiu, Chun-Yuan ; et al.
    In: 2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2008-04-01, S. 125
    Konferenz
  12. Matsuzawa, Akira
    In: 2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2008-04-01, S. 176
    Konferenz
  13. Chuang, Kai-Hsiang ; Yeh, Jyh-Yih ; et al.
    In: 2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2008-04-01, S. 152
    Konferenz
  14. Chen, Chih-Chiang ; Cin, Jhen-Jie ; et al.
    In: 2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2008-04-01, S. 212
    Konferenz
  15. Yu, Chueh-Hao ; Hsieh, Ching-Hsuan ; et al.
    In: 2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2008-04-01, S. 255
    Konferenz
  16. In: 2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2008-04-01
    Konferenz
  17. Das, Koushik K. ; Chuang, Ching-Te
    In: 2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2008-04-01, S. 81
    Konferenz
  18. Hsiao, Keng-Jan ; Lee, Ming-Hwa ; et al.
    In: 2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2008-04-01, S. 121
    Konferenz
  19. Huang, Yen-Chuan ; Chen, Qui-Ting ; et al.
    In: 2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2008-04-01, S. 200
    Konferenz
  20. Ji, Wen ; Li, Xing ; et al.
    In: 2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2008-04-01, S. 220
    Konferenz
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sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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