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    Propagating Bug Fixes with Fast Subgraph Matching
    Sun, Boya ; Shu, Gang ; et al.
    In: 2010 IEEE 21st International Symposium on Software Reliability Engineering, 2010-11-01, S. 21-30
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Characterizing Failures in Mobile OSes: A Case Study with Android and Symbian
    Maji, Amiya Kumar ; Hao, Kangli ; et al.
    In: 2010 IEEE 21st International Symposium on Software Reliability Engineering, 2010-11-01, S. 249-258
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Improving the Precision of Dependence-Based Defect Mining by Supervised Learning of Rule and Violation Graphs
    Sun, Boya ; Podgurski, Andy ; et al.
    In: 2010 IEEE 21st International Symposium on Software Reliability Engineering, 2010-11-01, S. 1-10
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Is Data Privacy Always Good for Software Testing?
    Grechanik, Mark ; Csallner, Christoph ; et al.
    In: 2010 IEEE 21st International Symposium on Software Reliability Engineering, 2010-11-01, S. 368-377
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Software Aging Analysis of the Linux Operating System
    Cotroneo, Domenico ; Natella, Roberto ; et al.
    In: 2010 IEEE 21st International Symposium on Software Reliability Engineering, 2010-11-01, S. 71-80
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
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