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    Underground characterization and modeling of alpha-particle induced Soft-Error Rate in CMOS 65nm SRAM
    Martinie, S. ; Autran, J.L. ; et al.
    In: 2011 12th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, 2011-09-01, S. 524-527
    Online Konferenz
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    Neutron displacement damage of an integrated bandgap voltage reference of a 90nm technology CMOS based SRAM
    Puchner, H. ; Whatley, M. ; et al.
    In: 2011 12th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, 2011-09-01, S. 812-814
    Online Konferenz
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    Novel test circuit structures using selectively metal-covered transistors for a laser irradiation upset analysis
    Hatano, Hiroshi
    In: 2011 12th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, 2011-09-01, S. 458-462
    Online Konferenz
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    Radiation hardness-by-design SRAM design for 0.15µm fully depleted SOI-ASIC
    Makihara, A. ; Yokose, T. ; et al.
    In: 2011 12th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, 2011-09-01, S. 164-168
    Online Konferenz
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    Impact of process variability on the radiation-induced soft error of nanometer-scale srams in hold and read conditions
    Griffoni, Alessio ; Zuber, Paul ; et al.
    In: 2011 12th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, 2011-09-01, S. 195-201
    Online Konferenz
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    Influence of spacecraft shielding structures on Galactic Cosmic ray-induced soft error rate
    Silvestri, Marco ; Tracino, Emanuele ; et al.
    In: 2011 12th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, 2011-09-01, S. 573-580
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    Impact of strained-Si PMOS transistors on SRAM soft error rates
    Mahatme, N. N. ; Bhuva, B. L. ; et al.
    In: 2011 12th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, 2011-09-01, S. 202-206
    Online Konferenz
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    Radiation characterization of a dual core LEON3-FT processor
    Sturesson, F. ; Gaisler, J. ; et al.
    In: 2011 12th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, 2011-09-01, S. 938-944
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    Alpha particle induced single-event error rates and scaling trends in commercial SRAM cells
    Chatterjee, I. ; Bhuva, B. L. ; et al.
    In: 2011 12th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, 2011-09-01, S. 232-237
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