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    Investigation of hot carrier reliability of SOI and strained SOI transistors using back bias
    Besnard, G. ; Garros, X. ; et al.
    In: 2015 VLSI-TSA Proceedings ; 2015 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Application (VLSI-TSA) ; https://hal.science/hal-02008449 ; 2015 International Symposium on VLSI Technology, 2015
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Investigation of hot carrier reliability of SOI and strained SOI transistors using back bias
    Besnard, G. ; Garros, X. ; et al.
    In: 2015 VLSI-TSA Proceedings ; 2015 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Application (VLSI-TSA) ; https://hal.science/hal-02008449 ; 2015 International Symposium on VLSI Technology, 2015
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Investigation of hot carrier reliability of SOI and strained SOI transistors using back bias
    Besnard, G. ; Garros, X. ; et al.
    In: 2015 VLSI-TSA Proceedings ; 2015 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Application (VLSI-TSA) ; https://hal.science/hal-02008449 ; 2015 International Symposium on VLSI Technology, 2015
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -