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    Hot carrier injection and negative bias temperature instability induced NMOS and PMOS degradation on CMOS Ring Oscillator
    Lahbib, I. ; Doukkali, M.A. ; et al.
    In: 2016 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS) ; https://normandie-univ.hal.science/hal-02184712 ; 2016 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), Jan 2016, Tucson, United States. pp.7448024, ⟨10.1109/RAMS.2016.7448024⟩, 2016
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Hot carrier injection and negative bias temperature instability induced NMOS and PMOS degradation on CMOS Ring Oscillator
    Lahbib, I. ; Doukkali, M.A. ; et al.
    In: 2016 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS) ; https://normandie-univ.hal.science/hal-02184712 ; 2016 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), Jan 2016, Tucson, United States. pp.7448024, ⟨10.1109/RAMS.2016.7448024⟩, 2016
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -