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    ENASA: Towards Edge Neural Architecture Search based on CIM acceleration
    Zhao, Shixin ; Qu, Songyun ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-2
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    eF2lowSim: System-Level Simulator of eFlash-Based Compute-in-Memory Accelerators for Convolutional Neural Networks
    Wang, Jooho ; Kim, Sunwoo ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Hierarchical Non-Structured Pruning for Computing-In-Memory Accelerators with Reduced ADC Resolution Requirement
    Xue, Wenlu ; Bai, Jinyu ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Built-in Self-Test and Built-in Self-Repair Strategies Without Golden Signature for Computing in Memory
    Tsai, Yu-Chih ; Ting, Wen-Chien ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Scalable Spintronics-based Bayesian Neural Network for Uncertainty Estimation
    Ahmed, Soyed Tuhin ; Danouchi, Kamal ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    SparseMEM: Energy-efficient Design for In-memory Sparse-based Graph Processing
    Zahedi, Mahdi ; Custers, Geert ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    TAM: A Computing in Memory based on Tandem Array within STT-MRAM for Energy-Efficient Analog MAC Operation
    Wang, Jinkai ; Gu, Zhengkun ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    HDGIM: Hyperdimensional Genome Sequence Matching on Unreliable highly scaled FeFET
    Barkam, Hamza Errahmouni ; Yun, Sanggeon ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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