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    Physics of Deep Submicron CMOS VLSI : 27th International Conference on the Physics of Semiconductors : ICPS-27
    Buss, D. D.
    In: AIP CONFERENCE PROCEEDINGS, Jg. 772 (2005), Heft B, S. 1591-1594
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Characterization of a back-illuminated CMOS camera for soft x-ray coherent scattering
    Popescu, Horia ; Thånell, Karina ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2019
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Neutron spectrum and dose in a CMOS
    Hector Rene Vega-Carrillo ; Paredes-Gutierrez, L. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2012
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Spatio-Temporal Simulation in Subthreshold CMOS : Applied nonlinear dynamics and stochastic systems near the millenium
    Neeley, J. ; Harris, J. G.
    In: AIP CONFERENCE PROCEEDINGS, , Heft E 411, S. 255-260
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Fully Integrated Linear Single Photon Avalanche Diode (SPAD) Array with Parallel Readout Circuit in a Standard 180 nm CMOS Process
    Isaak, S. ; Bull, S. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2011
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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    Adaptation of a Commercial Optical CMOS Image Sensor for Direct-Detection Fast X-ray Imaging
    Marschand, Lyle ; Kubik, Donna ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2007
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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    CMOS Imaging Detectors as X-ray Detectors for Synchrotron Radiation Experiments
    Yamamoto, Masaki ; Uesugi, Kentaro ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2004
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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    Low-Frequency Noise in a 0.18 μm Mixed-Mode CMOS Technology at Low Temperature
    Martin, P. ; Cavelier, M. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2009
    Online unknown
    Zugriff:
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    A CMOS Coupled Nonlinear Oscillator Array
    Neff, Joseph D.
    In: AIP Conference Proceedings, 2003
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Development of cryogenic readout electronics using fully-depleted-silicon-on-insulator CMOS process for future space borne far-infrared image sensors
    Nagata, Hirohisa ; Wada, Takehiko ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2009
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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    High LET Single Event Upset Cross Sections For Bulk and SOI CMOS SRAMs
    McDaniel, Floyd D. ; Dodd, P. E. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2003
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Drain and Gate Current LF Noise in Advanced CMOS devices with Ultrathin gate Oxides.
    Contaret, T. ; Romanjek, K. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, Jg. 780 (2005-08-25), Heft 1, S. 315-318
    Konferenz
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    Low-frequency noise and random telegraph signals in 0.35 μm silicon CMOS devices
    Brini, J. ; Guégan, G. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 1993
    Online unknown
    Zugriff:
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    Analysis of Error Sources in On-Wafer Noise Characterization of RF CMOS Transistors.
    Wiatr, Wojciech
    In: AIP Conference Proceedings, Jg. 780 (2005-08-25), Heft 1, S. 697-700
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Low-Frequency Noise Characterization of 90 nm Multiple Gate Oxide CMOS Transistors.
    Lukyanchikova, N. ; Garbar, N. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, Jg. 780 (2005-08-25), Heft 1, S. 331-334
    Konferenz
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    Modeling and characterization of noise in 90-nm RF CMOS technology.
    Scholten, A. J. ; Tiemeijer, L. F. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, Jg. 780 (2005-08-25), Heft 1, S. 735-740
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Laboratory source based full-field x-ray microscopy at 9 keV
    Wiest, Wolfram ; Fella, Christian ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2016
    Online unknown
    Zugriff:
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Metrology for Emerging Devices and Materials.
    Vogel, Eric M.
    In: AIP Conference Proceedings, Jg. 788 (2005-09-09), Heft 1, S. 650-655
    Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Advances In The Image Sensor: The Critical Element In The Performance Of Cameras
    Narabu, Tadakuni ; Matsuo, Jiro ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2011
    Online unknown
    Zugriff:
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Overview of Silicon Detectors in STAR: Present and Future
    Kabana, Sonia
    In: AIP Conference Proceedings, 2011
    Online unknown
    Zugriff:
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