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  1. Maricau, Elie ; Gielen, Georges
    In: Analog IC Reliability in Nanometer CMOS; (2013) S. 15-35
    Online E-Book
  2. Maricau, Elie ; Gielen, Georges
    In: Analog IC Reliability in Nanometer CMOS; (2013) S. 93-149
    Online E-Book
  3. Maricau, Elie ; Gielen, Georges
    In: Analog IC Reliability in Nanometer CMOS; (2013) S. 37-77
    Online E-Book
  4. Maricau, Elie ; Gielen, Georges
    In: Analog IC Reliability in Nanometer CMOS; (2013) S. 1-14
    Online E-Book
  5. Maricau, Elie ; Gielen, Georges
    In: Analog IC Reliability in Nanometer CMOS; (2013) S. 79-91
    Online E-Book
  6. Maricau, Elie ; Gielen, Georges
    In: Analog IC Reliability in Nanometer CMOS; (2013) S. 151-180
    Online E-Book
  7. Maricau, Elie ; Gielen, Georges
    In: Analog IC Reliability in Nanometer CMOS; (2013) S. 181-183
    Online E-Book
  8. In: Analog IC Reliability in Nanometer CMOS; (2013) S. 15-35
    Buch
  9. In: Analog IC Reliability in Nanometer CMOS; (2013) S. 181-183
    Buch
  10. 2015
    Buch
  11. In: Analog IC Reliability in Nanometer CMOS; (2013) S. 151-180
    Buch
  12. In: Analog IC Reliability in Nanometer CMOS; (2013) S. 93-149
    Buch
  13. In: Analog IC Reliability in Nanometer CMOS; (2013) S. 79-91
    Buch
  14. In: Analog IC Reliability in Nanometer CMOS; (2013) S. 37-77
    Buch
  15. In: Analog IC Reliability in Nanometer CMOS; (2013) S. 1-14
    Buch
  16. 2013
    Buch
  17. In: Analog IC Reliability in Nanometer CMOS; (2013) S. xi- (3S.)
    Buch
  18. In: Analog IC Reliability in Nanometer CMOS; (2013) S. vii- (3S.)
    Buch
  19. In: Analog IC Reliability in Nanometer CMOS; (2013) S. xv- (2S.)
    Buch
  20. 2013
    Buch
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -