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    Effect of grain boundary on electrical properties of polycrystalline lanthanum nickel oxide thin films.
    Zhu, M. ; Wang, Z. ; et al.
    In: Applied Physics A: Materials Science & Processing, Jg. 112 (2013-09-15), Heft 4, S. 1011-1018
    Online academicJournal
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    Electro-optic properties of epitaxial Sr<subscript>0.6</subscript>Ba<subscript>0.4</subscript>Nb<subscript>2</subscript>O<subscript>6</subscript> films grown on MgO substrates using Li<subscript>x</subscript>Ni<subscript>2-x</subscript>O buffer layer.
    Li, X.T. ; Du, P.Y. ; et al.
    In: Applied Physics A: Materials Science & Processing, Jg. 92 (2008-08-01), Heft 2, S. 397-400
    Online academicJournal
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    Improved dielectric and electrical properties of (Ba,Sr)TiO<subscript>3</subscript> thin films using Pt/LaNiO<subscript>3</subscript> as the top-electrode material.
    Gao, Y. H. ; Sun, J. L. ; et al.
    In: Applied Physics A: Materials Science & Processing, Jg. 91 (2008-06-01), Heft 3, S. 541-544
    Online academicJournal
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    Effect of LaNiO<subscript>3</subscript> buffer layers on the structure and electrical properties of sol–gel-derived Pb(Mg<subscript>1/3</subscript>Nb<subscript>2/3</subscript>)O<subscript>3</subscript>PbTiO<subscript>3</subscript> thin films.
    Lin, T. ; Meng, X. J. ; et al.
    In: Applied Physics A: Materials Science & Processing, Jg. 81 (2005-10-01), Heft 5, S. 1025-1028
    Online academicJournal
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    Highly (100)-oriented Eu-doped PZT thin films on sol-gel derived (100)-textured LaNiO[sub 3]/Si substrates.
    Yu, Y.J. ; Wang, F.P. ; et al.
    In: Applied Physics A: Materials Science & Processing, Jg. 78 (2004-03-10), Heft 5, S. 733-736
    Online academicJournal
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    Effects of LaNiO[sub 3] on the structures and properties of SrBi[sub 2]Ta[sub 2]O[sub 9] thin films.
    Zhang, S. T. ; Chen, Y. F. ; et al.
    In: Applied Physics A: Materials Science & Processing, Jg. 78 (2004-02-01), Heft 3, S. 363-367
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    Highly (100) oriented Pb([Zr.sub.0.52]Ti.sub.0.48)O.sub.3/LaNiO.sub.3 films grown on amorphous substrates by pulsed laser deposition
    Yu, Y.H. ; Lai, M.O. ; et al.
    In: Applied Physics A: Materials Science & Processing, Jg. 88 (2007-08-01), Heft 2, S. 365-370
    Online academicJournal
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    Volltext (PDF)
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    Influence of oxygen pressure on the ferroelectric properties of BiFeO thin films on LaNiO/Si substrates via laser ablation.
    Yan, F. ; Zhu, T. J. ; et al.
    In: Applied Physics A: Materials Science & Processing, Jg. 101 (2010-12-01), Heft 4, S. 651-654
    Online academicJournal
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