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    Thermal conductivity of ScxAl1-xN and YxAl1-xN alloys
    Tran, Dat ; Tasnadi, Ferenc ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 122 (2023), Heft 18
    Online unknown
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    Comparison of aluminum nitride thin films prepared by magnetron sputter epitaxy in nitrogen and ammonia atmosphere
    Sundarapandian, Balasubramanian ; Tran, Dat ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 124 (2024), Heft 18
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Enhancement of 2DEG effective mass in AlN/Al0.78Ga0.22N high electron mobility transistor structure determined by THz optical Hall effect
    Kuhne, Philipp ; Armakavicius, Nerijus ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 120 (2022), Heft 25
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Phonon-boundary scattering and thermal transport in AlxGa1-xN: Effect of layer thickness
    Tran, Dat ; Delgado Carrascon, Rosalia ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 117 (2020), Heft 25
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Correction: Erratum: “Phonon-boundary scattering and thermal transport in AlxGa1−xN: Effect of layer thickness” [Appl. Phys. Lett. 117, 252102 (2020)]
    Tran, Dat ; Delgado Carrascon, Rosalia ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 118 (2021), Heft 18
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Correction: Phonon-boundary scattering and thermal transport in AlxGa1-xN: Effect of layer thickness (vol 117, 252102, 2020)
    Tran, Dat ; Delgado Carrascon, Rosalia ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 118 (2021), Heft 10
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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