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    Self-induced ferroelectric 2-nm-thick Ge-doped HfO2 thin film applied to Ge nanowire ferroelectric gate-all-around field-effect transistor
    Lin, Yi-Wen ; Sun, Chong-Jhe ; et al.
    In: Applied physics letters, Jg. 117 (2020), Heft 26
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Self-induced ferroelectric 2-nm-thick Ge-doped HfO2 thin film applied to Ge nanowire ferroelectric gate-all-around field-effect transistor
    Hou, Fu-Ju ; Chang, H.-C. ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 117 (2020-12-28), S. 262109-262109
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Time-resolved observation of thermally activated rupture of a capillary-condensed water nanobridge
    Bak, Wan ; Sung, Baekman ; et al.
    In: Applied physics letters, Jg. 106 (2015), Heft 1
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Effect of nitride passivation on the visible photoluminescence from Si-nanocrystals
    Yang, M. S. ; Cho, K. S. ; et al.
    In: APPLIED PHYSICS LETTERS, Jg. 85 (2004), Heft 16, S. 3408-3410
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    High-resolution near-field spectroscopy of InAs single quantum dots at 70 K
    Yu, Y. J. ; Jhe, W. ; et al.
    In: APPLIED PHYSICS LETTERS, Jg. 83 (2003), Heft 15, S. 3024-3026
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Atomic-resolution noncontact atomic force microscopy in air
    Seo, Y. ; Choe, H. ; et al.
    In: APPLIED PHYSICS LETTERS, Jg. 83 (2003), Heft 9, S. 1860-1862
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    The characteristic carrier-Er interaction distance in Er-doped a-Si/SiO~2 superlattices formed by ion sputtering
    Jhe, J. H. ; Shin, J. H. ; et al.
    In: APPLIED PHYSICS LETTERS, Jg. 82 (2003), Heft 25, S. 4489-4491
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Electrostatic force microscopy using a quartz tuning fork
    Seo, Y. ; Jhe, W. ; et al.
    In: APPLIED PHYSICS LETTERS, Jg. 80 (2002), Heft 23, S. 4324-4326
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Near-field optical photoluminescence microscopy of high-density InAs/GaAs single quantum dots
    Eah, S. K. ; Jhe, W. ; et al.
    In: APPLIED PHYSICS LETTERS, Jg. 80 (2002), Heft 15, S. 2779-2781
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Er^3^+ photoluminescence properties of erbium-doped Si/SiO~2 superlattices with subnanometer thin Si layers
    Ha, Y. H. ; Kim, S. ; et al.
    In: APPLIED PHYSICS LETTERS, Jg. 79 (2001), Heft 3, S. 287-289
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Near-field photoreflectance spectroscopy of quantum well structures
    Cho, Y. H. ; Kim, D. S. ; et al.
    In: APPLIED PHYSICS LETTERS, Jg. 78 (2001), Heft 16, S. 2306-2308
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Direct observation of self-focusing near the diffraction limit in polycrystalline silicon film
    Choi, Y. ; Park, J. H. ; et al.
    In: APPLIED PHYSICS LETTERS, Jg. 78 (2001), Heft 7, S. 856-858
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Scanning nanolithography using a material-filled nanopipette
    Hong, M. H. ; Kim, K. H. ; et al.
    In: APPLIED PHYSICS LETTERS, Jg. 77 (2000), Heft 16, S. 2604-2606
    Online serialPeriodical
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    Full Text Finder (Volltext)
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Fast-scanning shear-force microscopy using a high-frequency dithering probe
    Seo, Y. ; Park, J. H. ; et al.
    In: APPLIED PHYSICS LETTERS, Jg. 77 (2000), Heft 26, S. 4274-4276
    Online serialPeriodical
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Er-carrier interaction and its effects on the Er^3^+ luminescence of erbium-doped Si/SiO~2 superlattices
    Shin, J. H. ; Jhe, J. H. ; et al.
    In: APPLIED PHYSICS LETTERS, Jg. 76 (2000), Heft 24, S. 3567-3569
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Evanescent-light guiding of atoms through hollow optical fiber for optically controlled atomic deposition
    Ito, H. ; Sakaki, K. ; et al.
    In: APPLIED PHYSICS LETTERS, Jg. 70 (1997), Heft 19, S. 2496-2498
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Crystalline ZrO2-gated Ge metal-oxide-semiconductor capacitors fabricated on Si substrate with Y2O3 as passivation layer.
    Wu, Yung-Hsien ; Wu, a Min-Lin ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 98 (2011-05-16), Heft 20, S. 203502-1- (3S.)
    Online academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Effect of nitride passivation on the visible photoluminescence from Si-nanocrystals
    Dae Won Moon ; Shin, JungHoon ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 85 (2004-10-18), S. 3408-3410
    Online unknown
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    High-resolution near-field spectroscopy of InAs single quantum dots at 70 K
    Jhe, Wonho ; Yu, Young-Jun ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 83 (2003-10-13), S. 3024-3026
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Atomic-resolution noncontact atomic force microscopy in air
    Seo, Yongho ; Hwan Sung Choe ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 83 (2003-09-01), S. 1860-1862
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
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