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    A straightforward optical alignment protocol for STM-based single molecule spectroscopy
    Aiga, Norihiro ; Takeuchi, Satoshi
    In: Applied Physics Letters, Jg. 121 (2022-08-29), S. 091601-91601
    Online unknown
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    Evolution of a liquid-like fluid phase on Ge/Au(111) at room temperature: A direct observation by STM.
    Wakabayashi, Yousuke ; Hashiguchi, Kouhei ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 111 (2017-12-25), Heft 26, S. 1-5
    Online academicJournal
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    Robust, carbon related, superconducting nanostructure at the apex of a tungsten STM tip
    Acebrón, María ; A. L. Vázquez de Parga ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 115 (2019-08-12), S. 073108-73108
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
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    Voltage dependent STM imaging of inorganic adsorbates
    Zaum, Christopher ; Morgenstern, Karina
    In: Applied Physics Letters, Jg. 113 (2018-07-16), S. 031602-31602
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Quantitative atom-resolved force gradient imaging using non contact - AFM/STM
    Oral, A. ; Grimble, R. A. ; et al.
    In: Applied Physics Letters, 2015
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Volltext
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    Synaptic plasticity and memory mimicked in solution-processed K-doped CuI thin film transistors.
    Lei, Jiangyun ; Dou, Wei ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 124 (2024-01-15), Heft 3, S. 1-7
    Online academicJournal
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    Ultrafast scanning probe microscopy
    WEISS, S ; OGLETREE, D. F ; et al.
    In: Applied physics letters, Jg. 63 (1993), Heft 18, S. 2567-2569
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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    Simultaneous molecular beam epitaxy growth and scanning tunneling microscopy imaging during Ge/Si epitaxy
    VOIGTLÄNDER, B ; ZINNER, A
    In: Applied physics letters, Jg. 63 (1993), Heft 22, S. 3055-3057
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Fabrication of GaAs nanostructures with a scanning tunneling microscope
    SNOW, E. S ; CAMPBELL, P. M ; et al.
    In: Applied physics letters, Jg. 63 (1993), Heft 25, S. 3488-3490
    Online academicJournal
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    Cross-sectional scanning tunneling microscopy of electrodeposited metal oxide superlattices
    GOLDEN, T. D ; RAFFAELLE, R. P ; et al.
    In: Applied physics letters, Jg. 63 (1993), Heft 11, S. 1501-1503
    Online academicJournal
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    Excitation and spin-transport of hot holes in ballistic hole magnetic microscopy
    Haq, E. ; Banerjee, T. ; et al.
    In: Applied physics letters, Jg. 88 (2006-06-12), Heft 24
    Online serialPeriodical
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    Scanning tunneling microscopy investigations of the Si(111) topography produced by etching in 40% NH4F : observation of an optimum etch duration
    HSIAO, G. S ; VIRTANEN, J. A ; et al.
    In: Applied physics letters, Jg. 63 (1993), Heft 8, S. 1119-1121
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Ballistic hole magnetic microscopy
    Haq, E. ; Banerjee, T. ; et al.
    In: Applied physics letters, Jg. 86 (2005), Heft 8
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
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