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    Curvature radius measurement by optical profiler and determination of the residual stress in thin films
    Maria Rosa Ardigo ; Besnard, Aurélien ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 487 (2019-09-01), S. 356-361
    Online unknown
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    In situ observation of droplet nanofluidics for yielding low-dimensional nanomaterials
    Yu, Linwei ; Lafosse, Xavier ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 573 (2022), S. 151510-151510
    Online unknown
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    Red-luminescence band: A tool for the quality assessment of germanium and silicon nanocrystals
    Jean Noël Aqua ; Naffouti, Meher ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 419 (2017-10-01), S. 476-483
    Online unknown
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    Surface free radicals detection using molecular scavenging method on black spruce wood treated with cold, atmospheric-pressure plasmas
    Riedl, Bernard ; Vlad, Mirela ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 359 (2015-12-01), S. 137-142
    Online unknown
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    Self-seeded electrochemical growth of ZnO nanorods using textured glass/Al-doped ZnO substrates
    Delamare, Romain ; Gence, Loïk ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 313 (2014-09-01), S. 607-614
    Online unknown
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    Grafting process of ethyltrimethoxysilane and polyphosphoric acid on calcium carbonate surface
    Bischoff, Jean-Luc ; Delaite, Christelle ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 264 (2013), S. 864-871
    Online unknown
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    Surface functionalization of graphite and carbon nanotubes by vacuum-ultraviolet photochemical reactions
    Illgen, René ; Girard-Lauriault, Pierre-Luc ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 258 (2012-09-01), S. 8448-8454
    Online unknown
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    XPS study of the O2/SF6 microwave plasma oxidation of (001) GaAs surfaces
    Desplats, O. ; Bideux, Luc ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 256 (2009-10-01), S. 56-60
    Online unknown
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    On the use of a O2:SF6 plasma treatment on GaAs processed surfaces for molecular beam epitaxial regrowth
    Armand, C. ; Bideux, Luc ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 255 (2009), S. 3897-3901
    Online unknown
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    XPS study of the formation of ultrathin GaN film on GaAs(100)
    Gruzza, Bernard ; Monier, Guillaume ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 254 (2008-04-01), S. 4150-4153
    Online unknown
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    On interface properties of ultra-thin and very-thin oxide/a-Si:H structures prepared by oxygen based plasmas and chemical oxidation
    Gleskova, Helena ; Brunner, Róbert ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 253 (2007-06-01), S. 6697-6715
    Online unknown
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Surface characteristics of PLA and PLGA films
    Six, J.L. ; Paragkumar N, Thanki ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 253 (2006-12-01), S. 2758-2764
    Online unknown
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    Passivation of Si and a-Si:H surfaces by thin oxide and oxy-nitride layers
    Rusnák, J. ; Brunner, Róbert ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 252 (2006-08-01), S. 7713-7721
    Online unknown
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Characterisation of electrospun nanowebs with static secondary ion mass spectrometry (S-SIMS)
    Schacht, Etienne ; L. Van Vaeck ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 252 (2006-07-01), S. 6992-6995
    Online unknown
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Optical emission spectroscopy investigation of sputtering discharge used for SiOxNy thin films deposition and correlation with the film composition
    Cellier, Joël ; Thomas, Luc ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 252 (2006-05-01), S. 5611-5614
    Online unknown
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Photoluminescence, structural and electrical properties of passivated a-Si:H based thin films and corresponding solar cells
    Gleskova, Helena ; Müllerová, Jarmila ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 235 (2004-08-01), S. 351-363
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Nitridation of GaAs(1 0 0) substrates and Ga/GaAs systems studied by XPS spectroscopy
    Matolín, Vladimír ; Ould-Metidji, Y. ; et al.
    In: Applied Surface Science, 2003-05-01, S. 614-618
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Amorphous TiO2 in LP-OMCVD TiNxOy thin films revealed by XPS
    Bourgeois, Sylvie ; Guillot, Jérôme ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 177 (2001-06-01), S. 268-272
    Online unknown
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Structural and in depth characterization of newly designed conducting/insulating TiN O /TiO2 multilayers obtained by one step LP-MOCVD growth
    Fabreguette, F. ; Sibillot, P. ; et al.
    In: Applied Surface Science, 2001-05-01, S. 685-690
    Online unknown
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Conductimetry and impedance spectroscopy study of low pressure metal organic chemical vapor deposition TiN O films as a function of the growth temperature: a percolation approach
    Imhoff, Luc ; Fabreguette, F. ; et al.
    In: Applied Surface Science, 2001-05-01, S. 574-578
    Online unknown
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