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Publikation
- secondary ion mass spectrometry sims xiii: proceedings of the thirteenth international conference on secondary ion mass spectrometry and related topics nara-ken new public hall, nara, japan, november 11-16, 2001 2 Treffer
- icsfs-12: 12th international conference on solid films and surfaces, hamamatsu, japan, 21-25 june 2004 1 Treffer
- iscsi-4: proceedings of the fourth international symposium on the control of semiconductor interfaces, karuizawa, japan, october 21-25, 2002 1 Treffer
- proceedings of the 4th international conference on noncontact atomic force microscopy 1 Treffer
- proceedings of the e-mrs 2005 spring meeting symposium p: current trends in optical and x-ray metrology of advanced materials for nanoscale devices, strasbourg, france, may 31-june 3, 2005 1 Treffer
- 2 weitere Werte:
Sprache
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In: Applied Surface Science, Jg. 566 (2021-11-15)academicJournalZugriff:
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In: Applied Surface Science, Jg. 556 (2021-08-01)academicJournalZugriff:
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In: Applied Surface Science, Jg. 545 (2021-04-15)academicJournalZugriff:
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In: Applied Surface Science, Jg. 422 (2017-11-15), S. 247-256academicJournalZugriff:
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In: Applied Surface Science, Jg. 420 (2017-10-31), S. 483-488academicJournalZugriff:
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In: Applied Surface Science, Jg. 413 (2017-08-15), S. 16-26academicJournalZugriff:
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In: Applied surface science, Jg. 316 (2014), S. 643-648academicJournalZugriff:
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In: ISCSI-4: Proceedings of the Fourth International Symposium on the Control of Semiconductor Interfaces, Karuizawa, Japan, October 21-25, 2002, Jg. 216 (2003), Heft 1-4, S. 46-53KonferenzZugriff:
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In: Applied surface science, Jg. 265 (2013), S. 764-770academicJournalZugriff:
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In: Applied surface science, Jg. 258 (2012), Heft 20, S. 8298-8306academicJournalZugriff:
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In: Applied surface science, Jg. 427 (2018), Heft PB, S. 148-155serialPeriodicalZugriff:
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In: Applied surface science, Jg. 435 (2018), S. 983-992serialPeriodicalZugriff:
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In: Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS XIII: Proceedings of the Thirteenth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry and Related Topics Nara-Ken New Public Hall, Jg. 203-04 (2003), S. 473-477KonferenzZugriff:
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In: Applied surface science, Jg. 257 (2011), Heft 20, S. 8679-8685academicJournalZugriff: