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521 Treffer

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    Composition dependence of InP/GaxIn1-xAsyP1-y/InP interface structures analyzed by X-ray CTR scattering measurements
    TABUCHI, M ; KYOUZU, H ; et al.
    In: ISCSI-4: Proceedings of the Fourth International Symposium on the Control of Semiconductor Interfaces, Karuizawa, Japan, October 21-25, 2002, Jg. 216 (2003), Heft 1-4, S. 526-531
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Composition dependence of InP/Ga~xIn~1~-~xAs~yP~1~-~y/InP interface structures analyzed by X-ray CTR scattering measurements : International symposium on the control of semiconductor interfaces
    Tabuchi, M. ; Kyouzu, H. ; et al.
    In: APPLIED SURFACE SCIENCE, Jg. 216 (2003), Heft NO 1-4, S. 526-531
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Characterization of initial growth stage of GaInN multi-layered structure by X-ray CTR scattering method : International symposium on the control of semiconductor interfaces
    Tabuchi, M. ; Hirayama, K. ; et al.
    In: APPLIED SURFACE SCIENCE, Jg. 159-160 (2000), S. 432-440
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    X-ray CTR scattering measurement of InP/InGaAs/InP interface structures fabricated by different growth processes : International symposium on the control of semiconductor interfaces
    Tabuchi, M. ; Takahashi, R. ; et al.
    In: APPLIED SURFACE SCIENCE, Jg. 159-160 (2000), S. 250-255
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Composition dependence of InP/Ga xIn 1− xAs yP 1− y/InP interface structures analyzed by X-ray CTR scattering measurements
    Tabuchi, M. ; Kyouzu, H. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 216 (2003), Heft 1, S. 526-531
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Occupation site and distribution of -︠doped Er in InP measured by X-ray CTR scattering
    Fujita, K. ; Tsuchiya, J. ; et al.
    In: APPLIED SURFACE SCIENCE, Jg. 117/118 (1997), Heft COM, S. 785-789
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    X-ray CTR scattering measurement of InP/InGaAs/InP interface structures fabricated by different growth processes
    Futakuchi, N. ; Takeda, Y. ; et al.
    In: Applied Surface Science, 2000-06-01, S. 250-255
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Composition dependence of InP/GaxIn1−xAsyP1−y/InP interface structures analyzed by X-ray CTR scattering measurements
    Takemi, M. ; Kyouzu, H. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 216 (2003-06-01), S. 526-531
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Characterization of initial growth stage of GaInN multi-layered structure by X-ray CTR scattering method
    Takeda, Yoshikazu ; Tabuchi, Masao ; et al.
    In: Applied Surface Science, 2000-06-01, S. 432-440
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Composition dependence of InP/Ga<subscript>x</subscript>In<subscript>1−x</subscript>As<subscript>y</subscript>P<subscript>1−y</subscript>/InP interface structures analyzed by X-ray CTR scattering measurements
    Tabuchi, M. ; Kyouzu, H. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 216 (2003-06-30), Heft 1-4, S. 526-531
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Occupation site and distribution of d-doped Er in InP measured by X-ray CTR scattering
    Fujita, K. ; Tsuchiya, J. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 117 (1997), Heft 1, S. 785-789
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    High-resolution X-ray diffraction studies of combinatorial epitaxial Ge (001) thin-films on Ge (001) substrates
    Zhong, Yuncheng ; Chu, Yong S. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 254 (2007-11-30), Heft 3, S. 714-719
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Study of the surface structure of Si(111)-6×1(3×1)-Ag using X-ray crystal truncation rod scattering
    Sumitani, Kazushi ; Masuzawa, Kosuke ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 252 (2006-05-30), Heft 15, S. 5288-5291
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Surface X-ray diffraction in transmission geometry
    Tajiri, Hiroo ; Sakata, Osami ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 234 (2004-07-15), Heft 1-4, S. 403-408
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Study of the surface structure of Si(1 1 1)-6 x 1(3 x 1)-Ag using X-ray crystal truncation rod scattering
    SUMITANI, Kazushi ; MASUZAWA, Kosuke ; et al.
    In: ACSIN8/ICTF13: Proceedings of the Eighth International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures and the Thirteenth International Congress on Thin Films, Stockholm, Sweden, June 20-23, 2005, Jg. 252 (2006), Heft 15, S. 5288-5291
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Study of the surface structure of Si(111)-6x1(3x1)-Ag using X-ray crystal truncation rod scattering
    In: Applied Surface Science, Jg. 252 (2006-05-30), Heft 15, S. 5288-5291
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Structural and electrical properties of nitrogen-doped ZnO thin films
    Ebru Senadim Tuzemen ; Esen, Ramazan ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 318 (2014-11-01), S. 157-163
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    High-resolution X-ray diffraction studies of combinatorial epitaxial Ge (001) thin-films on Ge (001) substrates
    Chu, Yong S. ; Tsui, Frank ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 254 (2007-11-01), S. 714-719
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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