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    Diffusion of Li in the silicon oxide films and evaluation of Li-induced surface potential
    MAEDA, Masahiko ; WATANABE, Teruyoshi ; et al.
    In: ICSFS-12: 12th International Conference on Solid Films and Surfaces, Hamamatsu, Japan, 21-25 June 2004, Jg. 244 (2005), Heft 1-4, S. 61-64
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Time transient investigation of photo-induced electron localization at atomic step edges of Si (1 1 1)
    ISHII, Masashi ; HAMILTON, Bruce
    In: 4th International Conference on Photo-Excited Processes and Applications (4-ICPEPA), Jg. 248 (2005), Heft 1-4, S. 14-18
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Dynamic-mode AFM using the piezoelectric cantilever: investigations of local optical and electrical properties
    Horiuchi, Toshihisa ; Matsushige, Kazumi ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 188 (2002-03-01), S. 425-429
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Local structures and electrical properties of organic molecular films investigated by non-contact atomic force microscopy
    Fukuma, Takeshi ; Matsushige, Kazumi ; et al.
    In: APPLIED SURFACE SCIENCE, Jg. 188 (2002), Heft 3-4, S. 391-398
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Dynamic-mode AFM using the piezoelectric cantilever: investigations of local optical and electrical properties
    Satoh, N. ; Kobayashi, K. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 188 (2002-03-28), Heft 3/4, S. 425-429
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Local structures and electrical properties of organic molecular films investigated by non-contact atomic force microscopy
    Yamada, H. ; Fukuma, T. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 188 (2002-03-28), Heft 3/4, S. 391-398
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Investigation of structural changes in AsxSe100-x amorphous thin films after electron beam irradiation with XAFS, XANES and Kelvin force microscopy.
    Shylenko, O. ; Bilanych, B. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 530 (2020-11-15), S. N.PAG
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Selectively buried growth of heavily B doped diamond layers with step-free surfaces in N doped diamond (1 1 1) by homoepitaxial lateral growth.
    Kobayashi, Kazuki ; Zhang, Xufang ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 593 (2022-08-15), S. N.PAG
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Zn<subscript>1−x </subscript>Mg<subscript> x </subscript>O/ZnO heterostructures studied by Kelvin probe force microscopy conjunction with probe characterizer
    Chiu, Te-Wei ; Itoh, Hiroshi ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 256 (2009-11-30), Heft 4, S. 1180-1183
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Microstructure and electrical characterization based on AFM of very high-doped polysilicon grains
    Coq Germanicus, R. ; Picard, E. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 253 (2007-05-15), Heft 14, S. 6006-6012
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Surface potential microscopy for organized molecular systems
    Sugimura, Hiroyuki ; Hayashi, Kazuyuki ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 188 (2002-03-28), Heft 3/4, S. 403-410
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Investigation of structural changes in AsxSe100-x amorphous thin films after electron beam irradiation with XAFS, XANES and Kelvin force microscopy
    Saksl, Karel ; Molčanová, Zuzana ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 530 (2020-11-01), S. 147266-147266
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Diffusion of Li in the silicon oxide films and evaluation of Li-induced surface potential
    Tabe, Michiharu ; Ishikawa, Yasuhiko ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 244 (2005-05-01), S. 61-64
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Microstructure and electrical characterization based on AFM of very high-doped polysilicon grains
    Germanicus, R. Coq ; Picard, E. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 253 (2007-05-15), Heft 14, S. 6006-6012
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Zn1−xMgxO/ZnO heterostructures studied by Kelvin probe force microscopy conjunction with probe characterizer
    Niki, Shigeru ; Itoh, Hiroshi ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 256 (2009-11-01), S. 1180-1183
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Microstructure and electrical characterization based on AFM of very high-doped polysilicon grains
    Danilo, K. ; Picard, E. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 253 (2007-05-01), S. 6006-6012
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Surface potential microscopy for organized molecular systems
    Nakagiri, Nobuyuki ; Takai, Osamu ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 188 (2002-03-01), S. 403-410
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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