Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
7 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Sprache

7 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Characteristics of NBTI in Multi-Gate FETs for Highly Scaled CMOS Technology
    Huang, Ru ; Wang, Runsheng ; et al.
    In: Bias Temperature Instability for Devices and Circuits; (2014) S. 643-659
    Buch
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Simulation of BTI-Related Time-Dependent Variability in CMOS Circuits
    Martin-Martinez, Javier ; Rodriguez, Rosana ; et al.
    In: Bias Temperature Instability for Devices and Circuits; (2014) S. 783-810
    Buch
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Characterization of Individual Traps in High-κ Oxides
    Toledano-Luque, M ; Kaczer, B
    In: Bias Temperature Instability for Devices and Circuits; (2014) S. 597-614
    Buch
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    NBTI and PBTI in HKMG
    Zhao, Kai ; Krishnan, Siddarth ; et al.
    In: Bias Temperature Instability for Devices and Circuits; (2014) S. 561-584
    Buch
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Bias Temperature Instability Characterization Methods
    Kerber, Andreas ; Cartier, Eduard
    In: Bias Temperature Instability for Devices and Circuits; (2014) S. 3-31
    Buch
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Multilevel Reliability Simulation for IC Design
    Sutaria, Ketul B ; Velamala, Jyothi B ; et al.
    In: Bias Temperature Instability for Devices and Circuits; (2014) S. 719-749
    Buch
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    On-Chip Silicon Odometers for Circuit Aging Characterization
    Keane, John ; Wang, Xiaofei ; et al.
    In: Bias Temperature Instability for Devices and Circuits; (2014) S. 679-717
    Buch
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -