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    Error Characterization and Mitigation for 16Nm MLC NAND Flash Memory Under Total Ionizing Dose Effect
    Li, Yue ; Bruck, Jehoshua
    In: CASI, 2018
    Online unknown
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Failure Modes in Capacitors When Tested Under a Time-Varying Stress
    Liu, David (Donhang)
    In: CASI, 2011
    Online unknown
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Reduction of structural loads using maneuver load control on the Advanced Fighter Technology Integration (AFTI)/F-111 mission adaptive wing
    Thornton, Stephen V.
    In: CASI, 1993
    Online unknown
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Design of neural networks for classification of remotely sensed imagery
    Birmingham, Mark ; Cromp, Robert F. ; et al.
    In: CASI, 1992
    Online unknown
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Results of aircraft open-loop tests of an experimental magnetic leader cable system for guidance during roll-out and turnoff
    Middleton, David B. ; Poole, William L. ; et al.
    In: CASI, 1990
    Online unknown
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Heavy Ion and Proton-Induced Single Event Upset Characteristics of a 3D NAND Flash Memory
    Wilcox, Edward ; Label, Kenneth ; et al.
    In: CASI, 2017
    Online unknown
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Evaluation of the Radiation Susceptibility of a 3D NAND Flash Memory
    Chen, Dakai ; Kim, Hak ; et al.
    In: CASI, 2017
    Online unknown
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Accelerated development and flight evaluation of active controls concepts for subsonic transport aircraft. Volume 1: Load alleviation/extended span development and flight tests
    Johnston, J. F.
    In: CASI, 1979
    Online unknown
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Accelerated development and flight evaluation of active controls concepts for subsonic transport aircraft
    In: CASI, 1979
    Online unknown
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Radiation Tests of Highly Scaled, High-Density, Commercial, Nonvolatile NAND Flash Memories - Update 2012
    Allen, Gregory R. ; Irom, Farokh
    In: CASI, 2012
    Online unknown
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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