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Planar, linear and point defects in high purity CVD diamond : Microscopy of semiconducting materialsIn: CONFERENCE SERIES- INSTITUTE OF PHYSICS, 1999, Heft NO 164, S. 85-88KonferenzZugriff:
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In: CONFERENCE SERIES- INSTITUTE OF PHYSICS, 1999, Heft NO 161, S. 413-416KonferenzZugriff:
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In: CONFERENCE SERIES- INSTITUTE OF PHYSICS, Jg. 146, S. 523-528KonferenzZugriff:
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In: CONFERENCE SERIES- INSTITUTE OF PHYSICS, Jg. 146, S. 625-628KonferenzZugriff:
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In: CONFERENCE SERIES- INSTITUTE OF PHYSICS, Jg. 146, S. 529-532KonferenzZugriff:
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In: CONFERENCE SERIES- INSTITUTE OF PHYSICS, Jg. 134, S. 703-706KonferenzZugriff:
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In: CONFERENCE SERIES- INSTITUTE OF PHYSICS, Jg. 134, S. 157-164KonferenzZugriff: