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    Planar, linear and point defects in high purity CVD diamond : Microscopy of semiconducting materials
    Steeds, J. W. ; Charles, S. J. ; et al.
    In: CONFERENCE SERIES- INSTITUTE OF PHYSICS, 1999, Heft NO 164, S. 85-88
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Microstructural studies of CVD diamond films by transmission electron microscopy : Institute of Physics; Electron Microscopy and Analysis Group
    Fitzgerald, A. G. ; Fan, Y. ; et al.
    In: CONFERENCE SERIES- INSTITUTE OF PHYSICS, 1999, Heft NO 161, S. 413-416
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Defects and microstructure of CVD diamond as observed with the TEM : Microscopy of semiconducting materials 1995
    Wurzinger, P. ; Joksch, M. ; et al.
    In: CONFERENCE SERIES- INSTITUTE OF PHYSICS, Jg. 146, S. 523-528
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Transmission electron microscopy of CVD copper for metallisation in microelectronics : Microscopy of semiconducting materials 1995
    Weaver, L. ; Siemsen, R. ; et al.
    In: CONFERENCE SERIES- INSTITUTE OF PHYSICS, Jg. 146, S. 625-628
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Structure characterization of boron doped CVD diamond films : Microscopy of semiconducting materials 1995
    Peiro, F. ; Polo, M. C. ; et al.
    In: CONFERENCE SERIES- INSTITUTE OF PHYSICS, Jg. 146, S. 529-532
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Investigation of recombination at misfit dislocations in SiGe CVD structures by 1:1 correlation of EBIC and CL : Microscopy of semiconducting materials 1993
    Higgs, V. ; Kittler, M.
    In: CONFERENCE SERIES- INSTITUTE OF PHYSICS, Jg. 134, S. 703-706
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Defects in polycrystalline CVD diamond layers analysed with the TEM : Microscopy of semiconducting materials 1993
    Wurzinger, P. ; Joksch, M. ; et al.
    In: CONFERENCE SERIES- INSTITUTE OF PHYSICS, Jg. 134, S. 157-164
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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sm 576 - 768
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