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    INVITED Cryo-CMOS Electronic Control for Scalable Quantum Computing.
    Sebastiano, Fabio ; Homulle, Harald ; et al.
    In: DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference, 2017, Heft 54, S. 145-150
    Online Konferenz
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    Volltext (PDF)
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    Design Methodology for Thin-Film Transistor Based Pseudo-CMOS Logic Array with Multi-Layer Interconnect Architecture.
    Zhao, Qinghang ; Liu, Yongpan ; et al.
    In: DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference, 2017, Heft 54, S. 939-944
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
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    A Novel Time and Voltage Based SAR ADC Design With Self-Learning Technique.
    Nagabhushana, Abhilash Karnatakam ; Wang, Haibo
    In: DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference, 2016-06-01, S. 605-610
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
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    Designing Guardbands for Instantaneous Aging Effects.
    van Santen, Victor M. ; Amrouch, Hussam ; et al.
    In: DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference, 2016-06-01, S. 404-409
    Online Konferenz
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    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
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    INVITED: A Pathway to Enable Exponential Scaling for the Beyond-CMOS Era.
    Wang, Jian-Ping ; Sapatnekar, Sachin S. ; et al.
    In: DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference, 2017, Heft 54, S. 187-192
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    A 90nm 103.14 TOPS/W Binary-Weight Spiking Neural Network CMOS ASIC for Real-Time Object Classification.
    Chuang, Po-Yao ; Tan, Pai-Yu ; et al.
    In: DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference, 2020, Heft 57, S. 149-154
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    Workload and User Experience-Aware Dynamic Reliability Management in Multicore Processors.
    Mercati, Pietro ; Bartolini, Andrea ; et al.
    In: DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference, 2013-06-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Volltext (PDF)
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    CMOS Scaling Beyond 32nm: Challenges and Opportunities.
    Kuhn, Kelin J.
    In: DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference, 2009-07-01, S. 310-313
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    INVITED: A 0.26% BER, Machine-Learning Resistant 1028 Challenge-Response PUF in 14nm CMOS Featuring Stability-Aware Adversarial Challenge Selection.
    Suresh, Vikram B. ; Kumar, Raghavan ; et al.
    In: DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference, 2020, Heft 57, S. 533-535
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    Novel CMOS RFIC Layout Generation with Concurrent Device Placement and Fixed-Length Microstrip Routing.
    Tseng, Tsun-Ming ; Li, Bing ; et al.
    In: DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference, 2016-06-01, S. 593-598
    Online Konferenz
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    Volltext (PDF)
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    Hybrid STT-CMOS Designs for Reverse-engineering Prevention.
    Winograd, Theodore ; Salmani, Hassan ; et al.
    In: DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference, 2016-06-01, S. 517-522
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    CAMPUF: Physically Unclonable Function based on CMOS Image Sensor Fixed Pattern Noise.
    Kim, Younghyun ; Lee, Yongwoo
    In: DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference, 2018, Heft 55, S. 199-204
    Online Konferenz
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    Volltext (PDF)
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    ChipSecure: A Reconfigurable Analog eFlash-Based PUF with Machine Learning Attack Resiliency in 55nm CMOS.
    Mahmoodi, Mohammad ; Nili, Hussein ; et al.
    In: DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference, 2019, Heft 56, S. 1309-1314
    Online Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Relays Do Not Leak - CMOS Does.
    Fariborzi, Hossein ; Chen, Fred ; et al.
    In: DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference, 2013-06-01, S. 1-4
    Online Konferenz
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    Volltext (PDF)
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A Closed-form Expression for Estimating Minimum Operating Voltage (VDDmin) of CMOS Logic Gates.
    Fuketa, Hiroshi ; Iida, Satoshi ; et al.
    In: DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference, 2011-06-01, S. 984-989
    Online Konferenz
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    Volltext (PDF)
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    An Energy-Efficient Heterogeneous CMP based on Hybrid TFET-CMOS Cores.
    Saripalli, Vinay ; Mishra, Asit ; et al.
    In: DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference, 2011-06-01, S. 729-734
    Online Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    An Error Tolerance Scheme for 3D CMOS Imagers.
    Chang, Hsiu-Ming ; Huang, Jiun-Lang ; et al.
    In: DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference, 2010-06-01, S. 917-922
    Online Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Image Quality Aware Metrics for Performance Specification of ADC Array in 3D CMOS Imagers.
    Chang, Hsiu-Ming ; Cheng, Kwang-Ting
    In: DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference, 2011-06-01, S. 759-764
    Online Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    CMOS Compatible Nanowires for Biosensing.
    Stern, Eric ; Routenberg, David A. ; et al.
    In: DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference, 2011-06-01, S. 718-722
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    On Tests to Detect Via Opens in Digital CMOS Circuits.
    Reddy, Sudhakar M. ; Pomeranz, Irith ; et al.
    In: DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference, 2008-02-01, S. 840-845
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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