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    CMOS Compatibility of a Micromachining Process Developed for Semiconductor Neural Probe
    An, S. K. ; Oh, S. J. ; et al.
    In: DTIC AND NTIS, 2001
    academicJournal
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    CMOS Devices Hardened Against Total Dose Radiation Effects
    Summers, Geoffrey ; DEPARTMENT OF THE NAVY WASHINGTON, DC
    In: DTIC AND NTIS, 2000
    academicJournal
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    Circuitry for Compensating for Transistor Parameter Mismatches in a CMOS Analog Four-Quadrant Multiplier.
    Shimabukuro, Randy L ; Shoemaker, Patrick A ; et al.
    In: DTIC AND NTIS, 1992
    academicJournal
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    Alternative Gate Designs for Improved Radiation Hardness in Bulk CMOS Integrated Circuits
    Noe, Sidney S. ; NAVAL POSTGRADUATE SCHOOL MONTEREY, CA
    In: DTIC AND NTIS, 1997
    academicJournal
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    Analysis and Design of CMOS Voltage-Folding Circuits and Their Use in High Speed ADCS.
    Hart, Troy L. ; NAVAL POSTGRADUATE SCHOOL MONTEREY, CA
    In: DTIC AND NTIS, 1996
    academicJournal
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    Secondary Side CMOS Feedback Control Integrated Circuit
    Wilkinson, William P. ; AIR FORCE INST OF TECH WRIGHT-PATTERSON AFB, OH
    In: DTIC AND NTIS, 1990
    academicJournal
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    Testing of a CMOS VLSI IC for Real-Time Opto-Electronic Two-Dimensional Histogram Generation.
    Reinagel, Peter J. ; NAVAL POSTGRADUATE SCHOOL MONTEREY, CA
    In: DTIC AND NTIS, 1995
    academicJournal
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    Decimation of Encoding Errors in an Optimum SNS 2 Micron Low-Noise CMOS ADC.
    Schafer, Jeffrey L. ; NAVAL POSTGRADUATE SCHOOL MONTEREY, CA
    In: DTIC AND NTIS, 1995
    academicJournal
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    Single Event Upset in Irradiated 16K CMOS SRAMs
    Axness, C. L. ; Schwank, J. R. ; et al.
    In: DTIC AND NTIS, 1990
    academicJournal
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    Modeling of Radiation Effects in CMOS
    VIRGINIA UNIV CHARLOTTESVILLE DEPT OF ELECTRICAL, ENGINEERING
    In: DTIC AND NTIS, 1992
    academicJournal
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    CMOS Analog Four-Quadrant Multiplier.
    Shoemaker, Patrick A ; Haviland, Gene L ; et al.
    In: DTIC AND NTIS, 1990
    academicJournal
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    Reliability Evaluation of Aluminum Implanted CMOS Microcircuits
    Smith, Jack S ; ROME AIR DEVELOPMENT CENTER GRIFFISS AFB, NY
    In: DTIC AND NTIS, 1976
    academicJournal
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    The Generation of Field Sensitive Interface States in Commercial CMOS Devices.
    Crowley,John L ; Dries,Lawrence J ; et al.
    In: DTIC AND NTIS, 1984
    academicJournal
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    Scaling Prospects for Ultimate Nanotransistors
    Likharev, Konstantin K. ; STATE UNIV OF NEW YORK RESEARCH FOUNDATION AT STONY BROOK OFFICE OF, SPONSOREDPROGRAMS
    In: DTIC AND NTIS, 2005
    academicJournal
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    Adaptable Locally Interconnected Architectures.
    Akers, Lex A. ; ARIZONA STATE UNIV, TEMPE
    In: DTIC AND NTIS, 1998
    academicJournal
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    Current Estimation for Electromigration, Hot Carriers, and Voltage Drop
    Hajj, Ibrahim N. ; Stamoulis, George ; et al.
    In: DTIC AND NTIS, 1994
    academicJournal
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    Reliability Characterization of Digital Microcircuits - Investigation of an In-Process Oxide Reliability Screening Method
    Wu, Chung P. ; DESERET TEST CENTER DUGWAY PROVING GROUND UT CHEMICAL, DIV
    In: DTIC AND NTIS, 1993
    academicJournal
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    Demonstration of Gray Scale in Electroclinic Liquid Crystals
    Nelson, K. S. ; Naciri, J. W. ; et al.
    In: DTIC AND NTIS, 1997
    academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Quantum Well Infrared Photodetector FPA
    Kozlowski, L. ; ROCKWELL INTERNATIONAL CORP THOUSAND OAKS CA SCIENCE, CENTER
    In: DTIC AND NTIS, 1994
    academicJournal
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    Test Diagnostics of RF Effects in Integrated Circuits
    Wilson, David D. ; Epshtein, Stan ; et al.
    In: DTIC AND NTIS, 1990
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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