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    An Extended-Gate Ion-Sensitive Field-Effect Transistor with CMOS Technology-Intrinsic TiN Sensing Layer
    Teng, Nan-Yuan ; Lin, Chih-Ting ; et al.
    In: ECS Meeting Abstracts, 2020-05-01, S. 2331-2331
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    (Invited) Isotopically Engineered Silicon Testbeds for Advanced CMOS and Quantum Information
    Usami, Noritaka ; Miyamoto, Satoru ; et al.
    In: ECS Meeting Abstracts, 2020-05-01, S. 1310-1310
    Online unknown
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    Copper Oxide Direct Bonding of 200mm CMOS Wafers with Five Metal Levels and TSVs: Morphological and Electrical Characterization
    Osman, Haris ; Cavaco, Celso ; et al.
    In: ECS Meeting Abstracts, 2016-09-01, S. 1925-1925
    Online unknown
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    (Invited) Novel Integrated Circuit Platforms Employing Monolithic Silicon CMOS + GaN Devices
    Liu, Zhihong ; Fitzgerald, Eugene A. ; et al.
    In: ECS Meeting Abstracts, 2016-09-01, S. 2247-2247
    Online unknown
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    (Invited) Epitaxial Oxides on Silicon for CMOS and Beyond
    H. Joerg Osten
    In: ECS Meeting Abstracts, 2016-09-01, S. 2328-2328
    Online unknown
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    (Invited) Spin-Based Silicon and CMOS-Compatible Devices
    Selberherr, Siegfried ; Sverdlov, Viktor
    In: ECS Meeting Abstracts, 2015-04-29, S. 1341-1341
    Online unknown
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    The Effect of CoSi2 Formation Process on the CMOS Transistor Electrical Properties for Sub 100nm Memory Applications
    Sang Jin Kim ; Jeong Hoon Park ; et al.
    In: ECS Meeting Abstracts, 2015-07-07, S. 825-825
    Online unknown
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    Evaluation of TaN as the Wet Etch Stop Layer during the 22nm HKMG Gate Last CMOS Integrations
    Yan, Jiang ; Yang, Tao ; et al.
    In: ECS Meeting Abstracts, 2013-10-27, S. 2109-2109
    Online unknown
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    Advanced Metal Gate FinFET CMOS TEchnology
    Suzuki, Eiichi ; Sakamoto, Kunihoro ; et al.
    In: ECS Meeting Abstracts, 2008-05-05, S. 732-732
    Online unknown
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    CMOS Compatible Growth of High Quality Ge, SiGe and SiGeSn for Photonic Device Applications
    Grant, Perry C. ; Du, Wei ; et al.
    In: ECS Meeting Abstracts, 2015-07-07, S. 842-842
    Online unknown
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Application of Atomic Layer Deposition Tungsten (ALD W) as gate filling metal for 22 nm and beyond nodes CMOS technology
    Luo, Jun ; Yan, Jiang ; et al.
    In: ECS Meeting Abstracts, 2013-10-27, S. 1890-1890
    Online unknown
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Investigation On Oxygen Diffusion in a High-k Metal-Gate Stack for Advanced CMOS Technology By XPS
    Gros-Jean, Mickael ; Kechichian, Ardem ; et al.
    In: ECS Meeting Abstracts, 2013-10-27, S. 2187-2187
    Online unknown
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    (Invited) Silicon Nanosheets as Candidates for Silicon-Based Optoelectronics
    Roling, Luke T. ; Dolgos, Carly J. ; et al.
    In: ECS Meeting Abstracts, 2021-05-30, S. 884-884
    Online unknown
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Development of III-V MOSFET Process Modules Compatible with Silicon ULSI Manufacture
    Jansen, Wout ; Li, Xu ; et al.
    In: ECS Meeting Abstracts, 2009-07-10, S. 2351-2351
    Online unknown
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    Low Hydrogen Silicon Carbon Nitride Cap for High Performance Sub-10 nm Cu-Low k Interconnect
    Shaw, Timothy M. ; Haigh, Thomas J. ; et al.
    In: ECS Meeting Abstracts, 2017-04-15, S. 1260-1260
    Online unknown
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    (Invited) Enabling Hetero-Integration of III-V and Ge-Based Transistors on Silicon with Ultra-Thin Buffers Formed by Interfacial Misfit Technique
    Kumar, Annie ; Kian Hua Tan ; et al.
    In: ECS Meeting Abstracts, 2016-09-01, S. 1966-1966
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Oxygen Control Challenge for Advanced Wet Processing
    Snow, Jim ; Takahashi, Hiromitsu ; et al.
    In: ECS Meeting Abstracts, 2015-07-07, S. 1013-1013
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    (Invited) Mobility Enhancement of Uniaxially Strained Germanium Nanowire MOSFETs
    Irisawa, Toshifumi ; Tezuka, Tsutomu ; et al.
    In: ECS Meeting Abstracts, 2014-08-05, S. 1792-1792
    Online unknown
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    (Invited) Strained Germanium Nanowire MOSFET with Low-Parasitic Resistance Metal Source/Drain
    Ono, Mizuki ; Ikeda, Keiji ; et al.
    In: ECS Meeting Abstracts, 2014-04-01, S. 1454-1454
    Online unknown
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    The Characteristics of Interface Microstructures in Germanium/SiO2 Low Temperature Wafer Bonding
    Ye, Tianchun ; Jiao, Jiwei ; et al.
    In: ECS Meeting Abstracts, 2010-07-08, S. 1715-1715
    Online unknown
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