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    Efficient CMOS subthreshold leakage analysis with improved stack based models in presence of parameter variations
    Sahula, Vineet ; Garg, Lokesh
    In: Electronics Letters, Jg. 49 (2013-05-01), S. 644-646
    Online unknown
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    0.99 mW 3–10 GHz common-gate CMOS UWB LNA using T-match input network and self-body-bias technique
    Lin, Y.-S. ; Chang, Jin-Fa
    In: Electronics Letters, Jg. 47 (2011), S. 658-658
    Online unknown
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    ISFET threshold voltage programming in CMOS using hot-electron injection
    Toumazou, C. ; Georgiou, Pantelis
    In: Electronics Letters, Jg. 45 (2009), S. 1112-1112
    Online unknown
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    Designing digital subthreshold CMOS circuits using parallel transistor stacks
    Shams, Maitham ; Muker, M.
    In: Electronics Letters, Jg. 47 (2011), S. 372-372
    Online unknown
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    Transient self back-biased buffer for low-voltage high-performance applications in standard CMOS technologies
    Moisiadis, Y. ; Bouras, I. ; et al.
    In: Electronics Letters, Jg. 35 (1999), S. 112-112
    Online unknown
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    Low voltage CMOS full adder cells
    Radhakrishnan, D.
    In: Electronics Letters, Jg. 35 (1999), S. 1792-1792
    Online unknown
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    Very low-voltage class AB CMOS and bipolar precision current rectifiers
    Tombs, J. ; Carvajal, Ramon G. ; et al.
    In: Electronics Letters, Jg. 35 (1999), S. 1904-1904
    Online unknown
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    CMOS circuits made in lamp-recrystallised silicon-on-insulator
    Vu, D.P. ; Bensahel, D. ; et al.
    In: Electronics Letters, Jg. 20 (1984), S. 298-298
    Online unknown
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    New CMOS floating voltage-controlled resistor
    Nagaraj, K.
    In: Electronics Letters, Jg. 22 (1986), S. 667-667
    Online unknown
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    CMOS circuits made in thin SIMOX films
    Colinge, Jean-Pierre ; Kamins, Theodore I.
    In: Electronics Letters, Jg. 23 (1987), S. 1162-1162
    Online unknown
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    8b 0.9 V 300 MHz pipelined ADC using transistor healing and charge‐steering techniques
    Ardalan, Shahab ; Moghadami, Siavash
    In: Electronics Letters, Jg. 51 (2015-02-01), S. 211-213
    Online unknown
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    EMI susceptibility of DTMOS opamps
    Richelli, Anna
    In: Electronics Letters, Jg. 49 (2013), S. 98-99
    Online unknown
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    Threshold voltage mismatch in short-channel MOS transistors
    Janssens, Edmond ; Kinget, Peter R. ; et al.
    In: Electronics Letters, Jg. 30 (1994-09-01), S. 1546-1548
    Online unknown
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Analogue switch for very low-voltage applications
    Kachare, M. ; Munoz, F. ; et al.
    In: Electronics Letters, Jg. 39 (2003), S. 701-701
    Online unknown
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Reduced delay sensitivity to process induced variability in current sensing interconnects
    Bashirullah, Rizwan
    In: Electronics Letters, Jg. 42 (2006), S. 531-531
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    New ratio method for effective channel length and threshold voltage extraction in MOS transistors
    Balestra, F. ; Boutchacha, T. ; et al.
    In: Electronics Letters, Jg. 37 (2001), S. 717-717
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Cooling as a possible way to extend the usability of IDDQ testing
    Torok, S. ; Rencz, M. ; et al.
    In: Electronics Letters, Jg. 33 (1997), S. 2117-2117
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Threshold voltage shift compensated active pixel sensor array for digital X-ray imaging in a-Si technology
    Rowlands, John A. ; Nathan, Arokia ; et al.
    In: Electronics Letters, Jg. 41 (2005), S. 411-411
    Online unknown
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Low power serial-parallel dynamic shift register
    Al-Sarawi, Said F. ; Abbott, Derek ; et al.
    In: Electronics Letters, Jg. 39 (2003), S. 19-19
    Online unknown
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Back-gated MOSFETs with controlled silicon thickness for adaptive threshold-voltage control
    Tiwari, Sandip ; Avci, Uygar E.
    In: Electronics Letters, Jg. 40 (2004), S. 74-74
    Online unknown
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