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    Thermodynamics of Pd(‐Au) nanoparticle‐titania interface studied by aberration‐corrected TEM
    Nhat Tai Nguyenhor ; Nelayahhor, Jaysen ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 143-144
    Nachschlagewerk
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    Performance of the SALVE III corrector for EFTEM applications
    Kahlhor, Frank ; Linckhor, Martin ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 787-788
    Nachschlagewerk
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    Status of the SALVE‐microscope: Cc‐correction for atomic‐resolution TEM imaging at 20kV
    Linckhor, Martin ; Hartelhor, Peter ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 314-315
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    Structural and electrical characterization of SnO2/CeO2 composite films
    Gehan El komyhor ; Gehan el komyhor ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 57-58
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    Interfacial properties of ceria films on yttria‐stabilized zirconia
    Schmidhor, Herbert ; Songhor, Kepeng ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 868-869
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    Electron interferometry techniques for strain analysis using a multi‐biprism microscope
    Denneulinhor, Thibaud ; Röderhor, Falk ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 679-680
    Nachschlagewerk
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    Structural and Chemical Investigations of Superconducting Lanthanum Cuprate Bilayer Interfaces
    Y. Eren Suyolcuhor ; Wanghor, Yi ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 956-957
    Nachschlagewerk
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    Quantitative annular dark‐field imaging at atomic resolution
    Yamashitahor, Shunsuke ; Koshiyahor, Shogo ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 503-504
    Nachschlagewerk
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    Nanograins in polycrystalline ferroelectric Hf0.5Zr0.5O2 films on Si substrate
    Suvorovahor, Elena ; Chernikovahor, Anna ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 1012-1013
    Nachschlagewerk
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    Aberration corrected HRTEM imaging of zeolitic nanocavities
    Yoshidahor, Kaname ; Sasakihor, Yukichi ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 571-572
    Nachschlagewerk
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    Direct Visualization of Magnetic Skyrmion by Aberration‐Corrected Differential Phase Contrast Scanning Transmission Electron Microscopy
    Matsumotohor, Takao ; Sohor, Yeong-Gi ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 689-690
    Nachschlagewerk
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    Quantitative low‐voltage spherical and chromatic aberration‐corrected high‐resolution TEM analysis of beam‐specimen interactions in single‐layer MoS2 and MoS2/graphene heterostructures
    Lehnerthor, Tibor ; Biskupekhor, Johannes ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 453-454
    Nachschlagewerk
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    Engineering the Contrast Transfer through the Cc/Cs Corrected 20–80 kV SALVE Microscope
    Börrnerthor, Felix ; Biskupekhor, Johannes ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 567-568
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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