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    Physical insights on nanoscale multi-gate CMOS design
    FOSSUM, Jerry G
    In: EUROSOI'06 Conference. Selected papers, Jg. 51 (2007), Heft 2, S. 188-194
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Some issues of hot-carrier degradation and negative bias temperature instability of advanced SOI CMOS transistors
    IOANNOU, D. P ; IOANNOU, D. E
    In: EUROSOI'06 Conference. Selected papers, Jg. 51 (2007), Heft 2, S. 268-277
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Low frequency noise in multi-gate SOI CMOS devices
    ZAFARI, Leily ; JOMAAH, Jalal ; et al.
    In: EUROSOI'06 Conference. Selected papers, Jg. 51 (2007), Heft 2, S. 292-298
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Planar double-gate SOI MOS devices : Fabrication by wafer bonding over pre-patterned cavities and electrical characterization
    CHUNG, T. M ; OLBRECHTS, B ; et al.
    In: EUROSOI'06 Conference. Selected papers, Jg. 51 (2007), Heft 2, S. 231-238
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Nonclassical devices in SOI : Genuine or copyright from III-V
    LURYI, S ; ZASLAVSKY, A
    In: EUROSOI'06 Conference. Selected papers, Jg. 51 (2007), Heft 2, S. 212-218
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Advanced BCD technology for automotive, audio and power applications
    WESSELS, Piet ; SWANENBERG, Maarten ; et al.
    In: EUROSOI'06 Conference. Selected papers, Jg. 51 (2007), Heft 2, S. 195-211
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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sm 576 - 768
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