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    Using CMOS-Compatible SOI MESFETs for Power Supply Management
    Lepkowski, William ; Wilk, Seth J. ; et al.
    In: Extreme Environment Electronics; (2013) S. 723-732
    Buch
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Considerations for the Reliability Estimation of Silicon CMOS
    Rauch, Stewart
    In: Extreme Environment Electronics; (2013) S. 455-458
    Buch
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    CMOS-Compatible Silicon-on-Insulator MESFETs for Extreme Environments
    Thornton, Trevor J. ; Lepkowski, William ; et al.
    In: Extreme Environment Electronics; (2013) S. 253-262
    Buch
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Trade-Offs between Performance and Reliability in Sub-100 nm RF-CMOS on SOI Technologies
    Arora, Rajan
    In: Extreme Environment Electronics; (2013) S. 185-196
    Buch
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Wide Temperature Range Operation of Si CMOS Platforms
    Appaswamy, Aravind C.
    In: Extreme Environment Electronics; (2013) S. 175-184
    Buch
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    CMOS Phase-Locked Loops
    Daniel Loveless, T.
    In: Extreme Environment Electronics; (2013) S. 601-618
    Buch
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Best Practices in Radiation Hardening by Design: CMOS
    Black, Jeffrey D.
    In: Extreme Environment Electronics; (2013) S. 475-483
    Buch
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Compact Modeling of CMOS Devices
    Francis, A. Matt
    In: Extreme Environment Electronics; (2013) S. 387-396
    Buch
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Radiation Effects in Si CMOS Platforms
    Massengill, Lloyd W.
    In: Extreme Environment Electronics; (2013) S. 155-174
    Buch
    Wie komme ich dran?
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