Suchergebnisse
UB Katalog
Artikel & mehr
Suchmaske
Suchergebnisse einschränken oder erweitern
Aktive Suchfilter
Weniger Treffer
Gefunden in
Art der Quelle
Schlagwort
- circuits integres 645 Treffer
- integrated circuits 645 Treffer
- conception. technologies. analyse fonctionnement. essais 574 Treffer
- design. technologies. operation analysis. testing 574 Treffer
- transistors 325 Treffer
-
45 weitere Werte:
- circuit integre 256 Treffer
- integrated circuit 254 Treffer
- circuito integrado 227 Treffer
- evaluacion prestacion 208 Treffer
- evaluation performance 208 Treffer
- performance evaluation 208 Treffer
- mosfet 196 Treffer
- transistor mosfet 196 Treffer
- circuits electriques, optiques et optoelectroniques 140 Treffer
- electric, optical and optoelectronic circuits 140 Treffer
- circuit properties 125 Treffer
- proprietes des circuits 125 Treffer
- fabrication microelectronique 119 Treffer
- microelectronic fabrication 118 Treffer
- circuits electroniques 111 Treffer
- electronic circuits 111 Treffer
- transistor effet champ 111 Treffer
- field effect transistor 110 Treffer
- technologie silicium sur isolant 109 Treffer
- silicon on insulator technology 108 Treffer
- tecnologia silicio sobre aislante 105 Treffer
- transistor efecto campo 102 Treffer
- silicon 101 Treffer
- fabricacion microelectrica 98 Treffer
- silicium 92 Treffer
- modeling 89 Treffer
- modelisation 89 Treffer
- modelizacion 86 Treffer
- optimisation 84 Treffer
- optimization 84 Treffer
- silicio 84 Treffer
- optimizacion 83 Treffer
- appareillage electronique et fabrication. composants passifs, circuits imprimes, connectique 80 Treffer
- electronic equipment and fabrication. passive components, printed wiring boards, connectics 80 Treffer
- courant fuite 79 Treffer
- leakage current 79 Treffer
- seuil tension 78 Treffer
- voltage threshold 78 Treffer
- fabrication microelectronique (technologie des materiaux et des surfaces) 74 Treffer
- fiabilite 74 Treffer
- microelectronic fabrication (materials and surfaces technology) 74 Treffer
- reliability 74 Treffer
- umbral tension 74 Treffer
- fiabilidad 72 Treffer
- deterioracion 71 Treffer
Sprache
Geographischer Bezug
728 Treffer
-
In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 58 (2011), Heft 10, S. 3604-3608Online academicJournalZugriff:
-
In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 60 (2013), Heft 3, S. 1162-1168Online academicJournalZugriff:
-
In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 60 (2013), Heft 1, S. 314-319Online academicJournalZugriff:
-
In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 60 (2013), Heft 10, S. 3459-3464Online academicJournalZugriff:
-
In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 60 (2013), Heft 5, S. 1701-1708Online academicJournalZugriff:
-
In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 60 (2013), Heft 11, S. 3726-3733Online academicJournalZugriff:
-
In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 60 (2013), Heft 1, S. 305-313Online academicJournalZugriff:
-
In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 60 (2013), Heft 12, S. 4173-4179Online academicJournalZugriff:
-
In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 60 (2013), Heft 4, S. 1451-1456Online academicJournalZugriff:
-
In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 60 (2013), Heft 5, S. 1738-1744Online academicJournalZugriff:
-
In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 58 (2011), Heft 8, S. 2310-2316Online academicJournalZugriff:
-
In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 59 (2012), Heft 3, S. 729-737Online academicJournalZugriff:
-
In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 59 (2012), Heft 4, S. 918-923Online academicJournalZugriff:
-
In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 59 (2012), Heft 12, S. 3594-3600Online academicJournalZugriff:
-
In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 59 (2012), Heft 6, S. 1580-1584Online academicJournalZugriff:
-
In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 59 (2012), Heft 1, S. 51-59Online academicJournalZugriff:
-
In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 59 (2012), Heft 6, S. 1693-1700Online academicJournalZugriff:
-
In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 60 (2013), Heft 6, S. 1892-1897Online academicJournalZugriff:
-
In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 60 (2013), Heft 5, S. 1547-1554Online academicJournalZugriff:
-
In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 60 (2013), Heft 3, S. 1154-1161Online academicJournalZugriff: