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    S/390 Parallel Enterprise Server CMOS cryptographic coprocessor
    Easter, R.J. ; Chencinski, E.W. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 43 (1999-09-01), Heft 5-6, S. 761-776
    Online serialPeriodical
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    A single-chip IBM System/390 floating-point processor in CMOS
    Dao-Trong, Son ; Helwig, Klaus
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. v36 (1992-07-01), Heft n4, S. 733-749
    Online serialPeriodical
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    A 128Kb CMOS static random-access memory
    Chu, Jeff L. ; Torabi, Hamid R. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. v35 (1991-05-01), Heft n3, S. 321-329
    Online serialPeriodical
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    Gross delay defect evaluation for a CMOS logic design system product
    Bula, Orest ; Moser, John ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. v34 (1990-03-01), Heft n2-3, S. 325-338
    Online serialPeriodical
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    Design for testability and diagnosis in a VLSI CMOS System/370 processor
    Starke, Cordt W.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. v34 (1990-03-01), Heft n2-3, S. 355-362
    Online serialPeriodical
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    Product-representative 'at speed' test structures for CMOS characterization
    Ketchen, M.B. ; Bhushan, M.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 50 (2006-07-01), Heft 4-5, S. 451-468
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
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    Optimizing CMOS technology for maximum performance
    Frank, D.J. ; Haensch, W. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 50 (2006-07-01), Heft 4-5, S. 419-431
    Online serialPeriodical
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    High-performance CMOS variability in the 65-nm regime and beyond
    Bernstein, K. ; Frank, D.J. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 50 (2006-07-01), Heft 4-5, S. 433-449
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
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    Application of an SOI 0.12-[micro]m CMOS technology to SoCs with low-power and high-frequency circuits
    Plouchart, J. O. ; Zamdmer, N. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 47 (2003-09-01), S. 611-629
    Online serialPeriodical
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    Foundation of rf CMOS and SiGe BiCMOS technologies
    Dunn, J.S. ; Ahlgren, D.C. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, 2003-03-01, S. 101-138
    Online serialPeriodical
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    Ultralow-voltage, minimum-energy CMOS
    Hanson, S. ; Zhai, B. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 50 (2006-07-01), Heft 4-5, S. 469-490
    Online serialPeriodical
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    CMOS scaling beyond the 100-nm node with silicon-dioxide-based gate dielectrics
    Wu, E.Y. ; Nowak, E.J. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, 2002-03-01, S. 287-298
    Online serialPeriodical
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Power-constrained CMOS scaling limits
    Frank, D.J.
    In: IBM Journal of Research and Development, 2002-03-01, S. 235-244
    Online serialPeriodical
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    CMOS design near the limit of scaling
    Taur, Y.
    In: IBM Journal of Research and Development, 2002-03-01, S. 213-222
    Online serialPeriodical
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Maintaining the benefits of CMOS scaling when scaling bogs down
    Nowak, E.J.
    In: IBM Journal of Research and Development, 2002-03-01, S. 169-180
    Online serialPeriodical
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Alpha-particle-induced upsets in advanced CMOS circuits and technology
    Heidel, D.F. ; Rodbell, K.P. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 52 (2008-05-01), Heft 3, S. 225-232
    Online serialPeriodical
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Silicon CMOS devices beyond scaling
    Haensch, W. ; Nowak, E.J. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 50 (2006-07-01), Heft 4-5, S. 339-361
    Online serialPeriodical
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Process requirements for continued scaling of CMOS--the need and prospects for atomic-level manipulation
    Agnello, P.D.
    In: IBM Journal of Research and Development, 2002-03-01, S. 317-338
    Online serialPeriodical
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Reliability limits for the gate insulator in CMOS technology
    Stathis, J.H.
    In: IBM Journal of Research and Development, 2002-03-01, S. 265-286
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    CMOS floating-point unit for the S/390 Parallel Enterprise Server G4
    Schwarz, E.M. ; Sigal, L. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. v41 (1997-07-01), Heft n4-5, S. 475-488
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