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  1. Gammeter, Christoph ; Krismer, Florian ; et al.
    In: IECON 2016 - 42nd Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society, 2016-10-01, S. 3640-3647
    Konferenz
  2. Fambrini, Francisco ; Saito, Jose Hiroki ; et al.
    In: IECON 2016 - 42nd Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society, 2016-10-01, S. 4750-4755
    Konferenz
  3. Hilal, A. ; Cougo, B. ; et al.
    In: IECON 2016 - 42nd Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society, 2016-10-01, S. 1087-1092
    Konferenz
  4. Zhang, Yicheng ; Su, Rong ; et al.
    In: IECON 2016 - 42nd Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society, 2016-10-01, S. 102-107
    Konferenz
  5. Tariq, Mohd ; Maswood, Ali Iftekhar ; et al.
    In: IECON 2016 - 42nd Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society, 2016-10-01, S. 4429-4434
    Konferenz
  6. Mengoni, M. ; Sala, G. ; et al.
    In: IECON 2016 - 42nd Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society, 2016-10-01, S. 5747-5753
    Konferenz
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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