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    Code Complexity and Version History for Enhancing Hybrid Bug Localization
    Hamdy, Abeer ; Ahmed Ali Seyam ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 9 (2021), S. 61101-61113
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Deep Learning With Customized Abstract Syntax Tree for Bug Localization
    Yang, Yuxing ; Sun, Lu ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 7 (2019), S. 116309-116320
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Early Detection of Flawed Structural Dependencies During Software Evolution
    Cui, Di
    In: IEEE Access, Jg. 9 (2021), S. 28856-28871
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Semantic Feature Learning via Dual Sequences for Defect Prediction
    Lu, Lu ; Lin, Junhao
    In: IEEE Access, Jg. 9 (2021), S. 13112-13124
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    A Systematic Review on Code Clone Detection
    Qurat Ul Ain ; Maqbool, Bilal ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 7 (2019), S. 86121-86144
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Fast Code Clone Detection Based on Weighted Recursive Autoencoders
    Ben, Kerong ; Zhang, Xian ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 7 (2019), S. 125062-125078
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    A Suitable AST Node Granularity and Multi-Kernel Transfer Convolutional Neural Network for Cross-Project Defect Prediction
    Deng, Jiehan ; Lu, Lu ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 8 (2020), S. 66647-66661
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    An Adversarial Discriminative Convolutional Neural Network for Cross-Project Defect Prediction
    Sheng, Lei ; Lu, Lu ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 8 (2020), S. 55241-55253
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    DeepCPDP: Deep Learning Based Cross-Project Defect Prediction
    Chen, Deyu ; Li, Hao ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 7 (2019), S. 184832-184848
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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