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    Generating Python Mutants From Bug Fixes Using Neural Machine Translation
    Asik, S. ; Yayan, U.
    In: IEEE Access, Jg. 11 (2023), S. 85678-85693
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Characterization and Detection of Tail Energy Bugs in Smartphones
    Abbasi, A.M. ; Al-Tekreeti, M. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 6 (2018), S. 65098-65098
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Application of the Law of Minimum and Dissimilarity Analysis to Regression Test Case Prioritization
    Ufuktepe, E. ; Tuglular, T.
    In: IEEE Access, Jg. 11 (2023), S. 57137-57157
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    A Seed Scheduling Method With a Reinforcement Learning for a Coverage Guided Fuzzing
    Choi, G. ; Jeon, S. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 11 (2023), S. 2048-2057
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Prediction and Correction of Software Defects in Message-Passing Interfaces Using a Static Analysis Tool and Machine Learning
    Al-Johany, N.A. ; Eassa, F.E. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 11 (2023), S. 60668-60680
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Extending the Space of Software Test Monitoring: Practical Experience
    Lasynskyi, M. ; Sosnowski, J.
    In: IEEE Access, Jg. 9 (2021), S. 166166-166183
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Crowdsourced Test Report Prioritization Based on Text Classification
    Yang, Y. ; Chen, X.
    In: IEEE Access, Jg. 10 (2022), S. 92692-92705
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Directed Model Checking for Fast Abstract Reachability Analysis
    Lee, N. ; Kim, Y. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 9 (2021), S. 158738-158750
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Efficient Test Case Generation for Thread-Safe Classes
    Bo, L. ; Jiang, S. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 7 (2019), S. 26984-26995
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Program State Sensitive Parallel Fuzzing for Real World Software
    Ye, J. ; Zhang, B. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 7 (2019), S. 42557-42564
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    HS-Pilot: Heap Security Evaluation Tool Model Based on Atomic Heap Interaction
    Chae, S. ; Jin, H. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 8 (2020), S. 201914-201924
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Test Suite Reduction via Evolutionary Clustering
    Xia, C. ; Zhang, Y. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 9 (2021), S. 28111-28121
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    A Study on Testers’ Learning Curve in Crowdsourced Software Testing
    Yao, Y. ; Huang, S. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 9 (2021), S. 77127-77137
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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