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    Test consideration for nanometer-scale CMOS circuits
    Cheng, Kwang-Ting ; Mak, T. M. ; et al.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 23 (2006-03-01), S. 128-136
    Online unknown
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    Leakage and process variation effects in current testing on future CMOS circuits
    Narendra, S. ; Keshavarzi, Ali ; et al.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 19 (2002-09-01), S. 36-43
    Online unknown
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    CMOS circuits with subvolt supply voltages
    Stan, Mircea R.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 19 (2002-03-01), S. 34-43
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    I/sub DDQ/ test and diagnosis of CMOS circuits
    Isern, Eugeni ; Figueras, Joan
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 12 (1995), S. 60-67
    Online unknown
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    Power Grid Optimization in 3D Circuits Using MIM and CMOS Decoupling Capacitors
    Sridharan, Karthikk ; Sapatnekar, Sachin S. ; et al.
    In: IEEE Design & Test of Computers, 2011
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    Empirical failure analysis and validation of fault models in CMOS VLSI circuits
    McNaughton, L.J. ; Pancholy, A. ; et al.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 9 (1992-03-01), S. 72-83
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    Detecting FET Stuck-Open Faults in CMOS Latches And Flip-Flops
    Reddy, Madhukar K. ; Reddy, Sudhakar M.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 3 (1986-10-01), S. 17-26
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    An Overview of Nanoscale Devices and Circuits
    Momenzadeh, M. ; Lombardi, Fabrizio ; et al.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 24 (2007-04-01), S. 304-311
    Online unknown
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    I/sub DDQ/ testing for deep-submicron ICs: challenges and solutions
    Wei, Liqiong ; Roy, Kaushik ; et al.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 19 (2002-03-01), S. 24-33
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    Measurement-Based Ring Oscillator Variation Analysis
    Kaya, A. ; Koide, Tetsushi ; et al.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 27 (2010-09-01), S. 6-13
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    MOSFET mismatch modeling: a new approach
    Klimach, Hamilton ; Arnaud, Alfredo ; et al.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 23 (2006), S. 20-29
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    Power estimation of digital data paths using HEAT
    Parhi, Keshab K. ; Satyanarayana, J.H.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 17 (2000), S. 101-110
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    Transmission coefficient correction for DACs
    Velixon, J.M.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 13 (1996), S. 34-39
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    Saving power in the control path of embedded processors
    Despain, Alvin M. ; Tsui, Chi-Ying ; et al.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 11 (1994), S. 24-31
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    A 100-MIPS GaAs asynchronous microprocessor
    Tak Kwan Lee ; Borkovic, Drazen ; et al.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 11 (1994), S. 43-49
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Fundamental Timing Problems in Testing MOS VLSI on Modern ATE
    Barber, Mark R.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 1 (1984-08-01), S. 90-97
    Online unknown
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