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    A CMOS Resizing Methodology for Analog Circuits
    Levi, Timothée ; Fouillat, P. ; et al.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 26 (2009), S. 78-87
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    Test Considerations for Gate Oxide Shorts in CMOS ICs
    Soden, Jerry M. ; Hawkins, Charles F.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 3 (1986), S. 56-64
    Online unknown
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    Detecting FET Stuck-Open Faults in CMOS Latches And Flip-Flops
    Reddy, Madhukar K. ; Reddy, Sudhakar M.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 3 (1986-10-01), S. 17-26
    Online unknown
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    Achieving Accurate Timing Measurements on TTL/CMOS Devices
    Petrich, Dennis
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 3 (1986), S. 33-42
    Online unknown
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    Designing CMOS Circuits for Switch-Level Testability
    Liu, Dick L. ; McCluskey, Edward J.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 4 (1987), S. 42-49
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    An Overview of Nanoscale Devices and Circuits
    Momenzadeh, M. ; Lombardi, Fabrizio ; et al.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 24 (2007-04-01), S. 304-311
    Online unknown
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    I/sub DDQ/ testing for deep-submicron ICs: challenges and solutions
    Wei, Liqiong ; Roy, Kaushik ; et al.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 19 (2002-03-01), S. 24-33
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    Reliability Implications of Bias-Temperature Instability in Digital ICs
    Kang, Kunhyuk ; Sang Phill Park ; et al.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 26 (2009-11-01), S. 8-17
    Online unknown
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    MOSFET mismatch modeling: a new approach
    Klimach, Hamilton ; Arnaud, Alfredo ; et al.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 23 (2006), S. 20-29
    Online unknown
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    Reducing power dissipation, delay, and area in logic circuits by narrowing transistors
    Unger, S.H.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 20 (2003-11-01), S. 18-25
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    Fault detection and location using I/sub DD/ waveform analysis
    Roy, K. ; Muhammad, K.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 18 (2001), S. 42-49
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    Current-based testing for deep-submicron VLSIs
    Sachdev, Manoj
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 18 (2001), S. 76-84
    Online unknown
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    Transmission coefficient correction for DACs
    Velixon, J.M.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 13 (1996), S. 34-39
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    Saving power in the control path of embedded processors
    Despain, Alvin M. ; Tsui, Chi-Ying ; et al.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 11 (1994), S. 24-31
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    A 100-MIPS GaAs asynchronous microprocessor
    Tak Kwan Lee ; Borkovic, Drazen ; et al.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 11 (1994), S. 43-49
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    Book Reviews: Plumbing the Depths of Leakage
    Sapatnekar, Sachin S.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 23 (2006-04-01), S. 318-319
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    Statistical High-Level Synthesis under Process Variability
    Xie, Yuan ; Chen, Yibo
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 26 (2009-07-01), S. 78-87
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    An MPGA-like FPGA
    Marple, D.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 9 (1992-12-01), S. 51-60
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    A Knowledge-Based Logic Design System
    Uehara, Takao
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 2 (1985), S. 27-34
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