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  1. Azim, Zubair Al ; Fong, Xuanyao ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 35 (2014-12-01), Heft 12, S. 1317-1319
    Online academicJournal
  2. Wu, Qingqing ; Chen, Jing ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 33 (2012-06-01), Heft 6, S. 743-745
    Online academicJournal
  3. Das, B. ; Schulze, J. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-12-01), Heft 12, S. 1832-1835
    Online academicJournal
  4. Banerjee, Sanjay K. ; Register, Leonard F. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 30 (2009-02-01), Heft 2, S. 158-160
    Online academicJournal
  5. Lee, H. ; Lee, A. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-09-01), Heft 9, S. 1343-1346
    Online academicJournal
  6. Sharad, Mrigank ; Roy, Kaushik
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 34 (2013-08-01), Heft 8, S. 1068-1070
    Online academicJournal
  7. Song, Ickhyun ; Jeon, Jongwook ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 29 (2008-12-01), Heft 12, S. 1380-1382
    Online academicJournal
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sm 576 - 768
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