Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
57 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Sprache

57 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Impact of Stress Mode on Stochastic BTI in Scaled MG/HK CMOS Devices
    KERBER, Andreas ; SRINIVASAN, Purushothaman
    In: IEEE electron device letters, Jg. 35 (2014), Heft 4, S. 431-433
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    CMOS On-Chip Stable True-Random ID Generation Using Antenna Effect
    FANG, TANG ; CHEN, Denis G ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 35 (2014), Heft 1, S. 54-56
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    CMOS inverter based on gate-all-around Silicon-Nanowire MOSFETs fabricated using Top-Down approach
    RUSTAGI, S. C ; SINGH, N ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 28 (2007), Heft 11, S. 1021-1024
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Ink-Jet-Printed Organic Thin-Film Transistors for Low-Voltage-Driven CMOS Circuits With Solution-Processed AlOX Gate Insulator
    SUNG HOON, KIM ; SUN HEE, LEE ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 34 (2013), Heft 2, S. 307-309
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    A Traveling-Wave CMOS SPDT Using Slow-Wave Transmission Lines for Millimeter-Wave Application
    TANG, Xiao-Lan ; PISTONO, Emmanuel ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 34 (2013), Heft 9, S. 1094-1096
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Vertical Silicon Nanowire Gate-All-Around Field Effect Transistor Based Nanoscale CMOS
    MAHESHWARAM, Satish ; MANHAS, S. K ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 32 (2011), Heft 8, S. 1011-1013
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Organic Pseudo-CMOS Circuits for Low-Voltage Large-Gain High-Speed Operation
    FUKUDA, Kenjiro ; SEKITANI, Tsuyoshi ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 32 (2011), Heft 10, S. 1448-1450
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Millimeter-Wave Passives in 45-nm Digital CMOS
    JINGLIN, SHI ; KAI, KANG ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 31 (2010), Heft 10, S. 1080-1082
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Miniature CMOS Stacked Spiral-Coupled Directional Coupler With ―67-dB Isolation and ―0.8-dub Insertion Loss
    LE, YE ; YONGAN, ZHENG ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 33 (2012), Heft 7, S. 919-921
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    65-nm CMOS Monolithically Integrated Subterahertz Transmitter
    XIN, HU ; TRIPODI, Lorenzo ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 32 (2011), Heft 9, S. 1182-1184
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    RF Model of BEOL Vertical Natural Capacitor (VNCAP) Fabricated by 45-nm RF CMOS Technology and Its Verification
    IN MAN, KANG ; JUNG, Seung-Jae ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 30 (2009), Heft 5, S. 538-540
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    CMOS Inverter Based on Schottky Source-Drain MOS Technology With Low-Temperature Dopant Segregation
    LARRIEU, Guilhem ; DUBOIS, Emmanuel
    In: IEEE electron device letters, Jg. 32 (2011), Heft 6, S. 728-730
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Broadband and Low-Loss 1: 9 Transmission-Line Transformer in 0.18-μm CMOS Process
    CHIOU, Hwann-Kaeo ; LIAO, Hsein-Yuan
    In: IEEE electron device letters, Jg. 31 (2010), Heft 9, S. 921-923
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    A Novel Scheme for Fabricating CMOS Inverters With Poly-Si Nanowire Channels
    KUO, Chia-Hao ; LIN, Horng-Chih ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 33 (2012), Heft 6, S. 833-835
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Enhanced CMOS performances using substrate strained-SiGe and mechanical strained-Si technology
    SAN LEIN, WU ; YU MIN, LIN ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 27 (2006), Heft 1, S. 46-48
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Design of CMOS transistors to maximize circuit FOM using a coupled process and mixed-mode simulation methodology
    VENUGOPAL, R ; CHAKRAVARTHI, S ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 27 (2006), Heft 10, S. 863-865
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Equivalent Circuit Model for Si Avalanche Photodetectors Fabricated in Standard CMOS Process
    LEE, Myung-Jae ; KANG, Hyo-Soon ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 29 (2008), Heft 10, S. 1115-1117
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Ti/Ni(80%)Cr(20%) Thin-Film Resistor With a Nearly Zero Temperature Coefficient of Resistance for Integration in a Standard CMOS Process
    NACHRODT, Dirk ; PASCHEN, Uwe ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 29 (2008), Heft 3, S. 212-214
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    ESD Protection Device With Dual-Polarity Conduction and High Blocking Voltage Realized in CMOS Process
    LUO, Sirui ; SALCEDO, Javier A ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 35 (2014), Heft 4, S. 437-439
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Device Circuit Co-Design Issues in Vertical Nanowire CMOS Platform
    MAHESHWARAM, Satish ; MANHAS, S. K ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 33 (2012), Heft 7, S. 934-936
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -