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    Long Exposure Time Noise in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors
    Han, Liqiang ; Xu, Jiangtao
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-07-01), S. 979-982
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    A Low-Loss Bandpass Filter using Edge-Coupled Resonator With Capacitive Feeding in (Bi)-CMOS Technology
    Zhu, Xi ; Zhu, He ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-06-01), S. 787-790
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    Monolithic Three-Dimensional 65-nm CMOS-Nanoelectromechanical Reconfigurable Logic for Sub-1.2-V Operation
    Woo Young Choi ; Hyug Su Kwon ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-09-01), S. 1317-1320
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    Low-Leakage and Low-Trigger-Voltage SCR Device for ESD Protection in 28-nm High- $k$ Metal Gate CMOS Process
    Lin, Chun-Yu ; Ker, Ming-Dou ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-11-01), S. 1387-1390
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    Optical Power Efficiency Versus Breakdown Voltage of Avalanche-Mode Silicon LEDs in CMOS
    Wienk, Gerard J. M. ; Annema, Anne-Johan ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 38 (2017-06-23), Heft 7, S. 898-901
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    THz Detection Using p+/n-Well Diodes Fabricated in 45-nm CMOS
    Kenneth, K. O ; Ahmad, Zeshan
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-07-01), S. 823-826
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    Full-Swing Clock Generating Circuits on Plastic Using a-IGZO Dual-Gate TFTs With Pseudo-CMOS and Bootstrapping
    Mativenga, Mallory ; Geng, Di ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-07-01), S. 882-885
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    High-Voltage Generation in CMOS Photovoltaic Devices by Localized Substrate Removal
    Su, Hsiu-Wei ; Hung, Yung-Jr ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-06-01), S. 754-757
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    In-Die Through-BEOL Metal Wall for Noise Isolation in 180-nm FD-SOI CMOS
    Li, Cheng ; Chen, Qi ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-05-01), S. 630-632
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    ESD Robust Fully Salicided 5-V Integrated Power MOSFET in Submicron CMOS
    Prabhu, Manjunatha ; Lee, Jian-Hsing ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-05-01), S. 623-625
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    Compact On-Chip Bandpass Filter With Improved In-Band Flatness and Stopband Attenuation in 0.13- $\mu \text{m}$ (Bi)-CMOS Technology
    Liu, Hang ; Zhang Ju Hou ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-10-01), S. 1359-1362
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Phase Transition FETs for Improved Dynamic Logic Gates
    Núñez, Juan ; Avedillo, Maria J. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-11-01), S. 1776-1779
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    Ultra-Low Energy LIF Neuron Using Si NIPIN Diode for Spiking Neural Networks
    Das, Bhaskar ; Ganguly, Udayan ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-12-01), S. 1832-1835
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    Ge-Based Asymmetric RRAM Enable $8{F}^{2}$ Content Addressable Memory
    Zhao, Yi ; Xu, Shun ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-09-01), S. 1294-1297
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    Resistor-Triggered SCR Device for ESD Protection in High-Speed I/O Interface Circuits
    Chen, Chun-Yu ; Lin, Chun-Yu
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-06-01), S. 712-715
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    The Impact of RTN Signal on Array Level Resistance Fluctuation of Resistive Random Access Memory
    Luo, Qing ; Xu, Xiaoxin ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-05-01), S. 676-679
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    Bidirectional ESD Protection Device Using PNP With pMOS-Controlled Nwell Bias
    Smedes, Theo ; Tseng, Wei-Jhih ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-03-01), S. 331-334
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    The Impact of Self-Heating on Charge Trapping in High- <tex-math notation='LaTeX'>$k$ </tex-math>-Metal-Gate nFETs
    J. Campbell Scott ; Iyer, Subramanian S. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016), S. 88-91
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    MOSFETs RF Noise Optimization via Channel Engineering
    Tao Chuan Lim ; Dambrine, Gilles ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 29 (2008), S. 118-121
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    A Compact and Low-Loss Bandpass Filter Using Self-Coupled Folded-Line Resonator With Capacitive Feeding Technique
    Zhu, Xi ; Dutkiewicz, Eryk ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, 2018, S. 1-1
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