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    Long Exposure Time Noise in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors
    Han, Liqiang ; Xu, Jiangtao
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-07-01), S. 979-982
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    A Low-Loss Bandpass Filter using Edge-Coupled Resonator With Capacitive Feeding in (Bi)-CMOS Technology
    Zhu, Xi ; Zhu, He ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-06-01), S. 787-790
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    Simultaneous Imaging and Energy Harvesting in CMOS Image Sensor Pixels
    Yoon, Euisik ; Park, Sung-Yun ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-04-01), S. 532-535
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    Optical Stimulation Effects on TiO2Sensor Dielectric Used in Capacitively-Coupled High-Density CMOS Microelectrode Array
    Zeck, Günther ; Boucsein, Clemens ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-07-01), S. 967-970
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    Optical Power Efficiency Versus Breakdown Voltage of Avalanche-Mode Silicon LEDs in CMOS
    Wienk, Gerard J. M. ; Annema, Anne-Johan ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 38 (2017-06-23), Heft 7, S. 898-901
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    A Study of Vertical Thin Poly-Si Channel Transfer Gate Structured CMOS Image Sensors
    Yoo, Kyung-Dong ; Cho, In-Wook ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-02-01), S. 232-235
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    THz Detection Using p+/n-Well Diodes Fabricated in 45-nm CMOS
    Kenneth, K. O ; Ahmad, Zeshan
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-07-01), S. 823-826
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    High-Voltage Generation in CMOS Photovoltaic Devices by Localized Substrate Removal
    Su, Hsiu-Wei ; Hung, Yung-Jr ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-06-01), S. 754-757
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    Effects of Parasitic Resistance on the Performance of Silicon Avalanche Photodetectors in Standard CMOS Technology
    Woo Young Choi ; Lee, Myung-Jae
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016), S. 60-63
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    In-Die Through-BEOL Metal Wall for Noise Isolation in 180-nm FD-SOI CMOS
    Li, Cheng ; Chen, Qi ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-05-01), S. 630-632
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    Compact On-Chip Bandpass Filter With Improved In-Band Flatness and Stopband Attenuation in 0.13- $\mu \text{m}$ (Bi)-CMOS Technology
    Liu, Hang ; Zhang Ju Hou ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-10-01), S. 1359-1362
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    A Traveling-Wave CMOS SPDT Using Slow-Wave Transmission Lines for Millimeter-Wave Application
    Pistono, Emmanuel ; Ferrari, Philippe ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 34 (2013-09-01), S. 1094-1096
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    A Sub-150- BEOL-Embedded CMOS-MEMS Oscillator With a 138-dB Ultra-Low-Noise TIA
    Li, Ming-Huang ; Li, Sheng-Shian ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-05-01), S. 648-651
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    Ultra-Low Energy LIF Neuron Using Si NIPIN Diode for Spiking Neural Networks
    Das, Bhaskar ; Ganguly, Udayan ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-12-01), S. 1832-1835
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    Ge-Based Asymmetric RRAM Enable $8{F}^{2}$ Content Addressable Memory
    Zhao, Yi ; Xu, Shun ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-09-01), S. 1294-1297
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    Bidirectional ESD Protection Device Using PNP With pMOS-Controlled Nwell Bias
    Smedes, Theo ; Tseng, Wei-Jhih ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-03-01), S. 331-334
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    The Impact of Self-Heating on Charge Trapping in High- <tex-math notation='LaTeX'>$k$ </tex-math>-Metal-Gate nFETs
    J. Campbell Scott ; Iyer, Subramanian S. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016), S. 88-91
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    A Compact and Low-Loss Bandpass Filter Using Self-Coupled Folded-Line Resonator With Capacitive Feeding Technique
    Zhu, Xi ; Dutkiewicz, Eryk ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, 2018, S. 1-1
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    An Accumulation Mode RF Laterally Double Diffused MOSFET With Improved Performance
    Deng, Xiaochuan ; Kunyuan, Liang ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-10-01), S. 1321-1323
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