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    Back-End-of-Line Compatible Fully Depleted CMOS Inverters Employing Ge p-FETs and α-InGaZnO n-FETs
    Han, Kaizhen ; Wang, Chengkuan ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-10-01), S. 1488-1491
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    A Low Impedance CMOS-MEMS Capacitive Resonator Based on Metal-Insulator-Metal (MIM) Capacitor Structure
    Li, Sheng-Shian ; Chen, Hung-Yu ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-07-01), S. 1045-1048
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    All-Silicon Microdisplay Using Efficient Hot-Carrier Electroluminescence in Standard 0.18μm CMOS Technology
    Luo, Qian ; Xu, Kaikai ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-04-01), S. 541-544
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    High Responsivity Ge Phototransistor in Commercial CMOS Si-Photonics Platform for Monolithic Optoelectronic Receivers
    Cressler, John D. ; Frounchi, Milad ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-02-01), S. 196-199
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    Balanced Drive and Sense CMOS Thermal Piezoresistive Resonators and Oscillators
    Zope, Anurag A. ; Li, Sheng-Shian
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-02-01), S. 232-235
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    Using Schottky Barrier Diode to Improve Latch-Up Immunity for CMOS ICs Operating With Negative Voltage Sources
    Chang, Rong-Kun ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-03-01), S. 395-397
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    A Novel High Photon Detection Efficiency Silicon Photomultiplier With Shallow Junction in 0.35 $\mu$ m CMOS
    Xie, Qingguo ; Schmidt, Andrei ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 40 (2019-09-01), S. 1471-1474
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    Device Modeling of MgO-Barrier Tunneling Magnetoresistors for Hybrid Spintronic-CMOS
    Zuo, Siming ; Heidari, Hadi ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-11-01), S. 1784-1787
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    Long Exposure Time Noise in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors
    Han, Liqiang ; Xu, Jiangtao
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-07-01), S. 979-982
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    A Low-Loss Bandpass Filter using Edge-Coupled Resonator With Capacitive Feeding in (Bi)-CMOS Technology
    Zhu, Xi ; Zhu, He ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-06-01), S. 787-790
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    Assessment of Germanane Field-Effect Transistors for CMOS Technology
    Yoon, Youngki ; AlMutairi, AbdulAziz ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-12-01), S. 1743-1746
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    Optical Power Efficiency Versus Breakdown Voltage of Avalanche-Mode Silicon LEDs in CMOS
    Wienk, Gerard J. M. ; Annema, Anne-Johan ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 38 (2017-06-23), Heft 7, S. 898-901
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    High-Responsivity Si Photodiodes at 1060 nm in Standard CMOS Technology
    Zhou, Hongyi ; He, Xiaoying ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-02-01), S. 228-231
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    Impact of Series Resistance on Bulk CMOS Current Matching Over the 5–300K Temperature Range
    Nguyen Cong Dao ; Leong, Philip H. W. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-07-01), S. 847-850
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Charge Trap Transistor (CTT): An Embedded Fully Logic-Compatible Multiple-Time Programmable Non-Volatile Memory Element for High- $k$ -Metal-Gate CMOS Technologies
    Khan, Faraz ; Iyer, Subramanian S. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017), S. 44-47
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    Low-Leakage and Low-Trigger-Voltage SCR Device for ESD Protection in 28-nm High- $k$ Metal Gate CMOS Process
    Lin, Chun-Yu ; Ker, Ming-Dou ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-11-01), S. 1387-1390
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    Cryogenic Characterization of 22nm FDSOI CMOS Technology for Quantum Computing ICs
    Jia, H. ; Dadash, M. S. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, 2019
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    Full-Swing Clock Generating Circuits on Plastic Using a-IGZO Dual-Gate TFTs With Pseudo-CMOS and Bootstrapping
    Mativenga, Mallory ; Geng, Di ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-07-01), S. 882-885
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    Correction to 'Broadband Terahertz Power Detectors Based on 90-nm Silicon CMOS Transistors With Flat Responsivity Up to 2.2 THz' [Sep 18 1413-1416]
    Lisauskas, Alvydas ; Roskos, Hartmut G. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, 2019
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    Effects of Parasitic Resistance on the Performance of Silicon Avalanche Photodetectors in Standard CMOS Technology
    Woo Young Choi ; Lee, Myung-Jae
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016), S. 60-63
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