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    Optimization of Photodiode Design Through Analysis of Full-Well Capacity and Image Lag in 0.5 μ m CMOS Image Sensors With Vertical Transfer Gates.
    Park, Jae Hyeon ; Suk, Chan Hee ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-10-01), Heft 10, S. 1697-1700
    Online academicJournal
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    Island-Style Monolithic Three-Dimensional CMOS-Nanoelectromechanical Logic Circuits.
    Kwon, Hyug Su ; Ko, Ji Wang ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 41 (2020-08-01), Heft 8, S. 1257-1260
    Online academicJournal
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    Hybrid Pixels With Si Photodiode and 4H-SiC MOSFETs Using Direct Heterogeneous Bonding Toward Radiation Hardened CMOS Image Sensors.
    Meguro, Tatsuya ; Takeyama, Akinori ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-10-01), Heft 10, S. 1713-1716
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    A Harmonic Radar Tag With High Detection Range Utilizing Ge FinFETs CMOS Technology.
    Hsieh, Cheng-Hung ; Hong, Tzu-Chieh ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-11-01), Heft 11, S. 1798-1801
    Online academicJournal
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    Miniaturized On-Chip Notch Filter With Sharp Selectivity and >35-dB Attenuation in 0.13-μm Bulk CMOS Technology.
    Chen, Lisheng ; Zhu, He ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-08-01), Heft 8, S. 1175-1178
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Phased Array Based on AlScN Piezoelectric Micromachined Ultrasound Transducers Monolithically Integrated on CMOS.
    Zamora, I. ; Ledesma, E. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-07-01), Heft 7, S. 1113-1116
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Performance Improvement for Ge FinFET CMOS Inverter With Supercritical Fluid Treatment.
    Ruan, Dun-Bao ; Chang-Liao, Kuei-Shu ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-06-01), Heft 6, S. 838-841
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Effects of Parasitic Resistance on the Performance of Silicon Avalanche Photodetectors in Standard CMOS Technology.
    Lee, Myung-Jae ; Choi, Woo-Young
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016), Heft 1, S. 60-63
    Online academicJournal
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    A CMOS Image Sensor Pixel Combining Deep Sub-Electron Noise With Wide Dynamic Range.
    Boukhayma, Assim ; Caizzone, Antonino ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, 2020-06-01, Heft 6, S. 880-883
    Online academicJournal
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    Detection of DNA Hybridization Beyond the Debye Screening Length by CMOS Capacitive Sensors.
    Lin, Chang-Hung ; Lee, Yuan-Chieh ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-08-01), Heft 8, S. 1319-1322
    Online academicJournal
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A Novel RF Power Detector Based on Positive and Negative Thermistors Using Standard CMOS Technology.
    Li, Jian-Hua ; Liao, Xiaoping
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-12-01), Heft 12, S. 1849-1852
    Online academicJournal
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Wideband Bandpass Filter for 5G Millimeter- Wave Application in 45-nm CMOS Silicon-on-Insulator.
    Gao, Li ; Rebeiz, Gabriel M.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-08-01), Heft 8, S. 1244-1247
    Online academicJournal
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    A Back-Illuminated 4 μ m P⁺N-Well Single Photon Avalanche Diode Pixel Array With 0.36Hz/ μ m² Dark Count Rate at 2.5 V Excess Bias Voltage.
    Sun, Wenbo ; Wang, Yuxin ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-09-01), Heft 9, S. 1519-1522
    Online academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Highly Sensitive DNA Detection Beyond the Debye Screening Length Using CMOS Field Effect Transistors.
    Chen, Yi-Wei ; Lu, Michael S. C.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-08-01), Heft 8, S. 1220-1223
    Online academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A Low Impedance CMOS-MEMS Capacitive Resonator Based on Metal-Insulator-Metal (MIM) Capacitor Structure.
    Chen, Hung-Yu ; Li, Sheng-Shian ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-07-01), Heft 7, S. 1045-1048
    Online academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A GHz Operating CMOS Compatible ScAlN Based SAW Resonator Used for Surface Acoustic Waves/Spin Waves Coupling.
    Zdru, I. ; Nastase, C. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-09-01), Heft 9, S. 1551-1554
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Measurement of Self-Heating of High-Frequency CMOS Clock Buffers.
    Jenkins, Keith A. ; Weger, Alan J.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-05-01), Heft 5, S. 686-688
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    All-Silicon Microdisplay Using Efficient Hot-Carrier Electroluminescence in Standard 0.18μm CMOS Technology.
    Wu, Kejun ; Zhang, Hongqiao ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-04-01), Heft 4, S. 541-544
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    CMOS Ternary Logic With a Biristor Threshold Switch for Low Static Power Consumption.
    Han, Joon-Kyu ; Yu, Ji-Man ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-07-01), Heft 7, S. 1005-1008
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    Monolithic 3D Integration With Photosensor and CMOS Circuits Using Ion-Cut Layer Transfer.
    Han, Hoonhee ; Cho, Hyeon Cheol ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-03-01), Heft 3, S. 430-433
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