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  1. Lee, Jangseop ; Ban, Sanghyun ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 44 (2023), Heft 9, S. 1468-1471
    Online serialPeriodical
  2. LIAO, J. C ; FANG, Yean-Kuen ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 29 (2008), Heft 5, S. 509-511
    Online academicJournal
  3. Regner, Keith T. ; Malen, Jonathan A.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-05-01), Heft 5, S. 572-575
    Online academicJournal
  4. Malen, Jonathan A. ; Regner, Keith T.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-05-01), S. 572-575
    Online unknown
  5. Gurrum, Siva P. ; Joshi, Yogendra K. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 25 (2004-10-01), Heft 10, S. 696-698
    Online academicJournal
  6. Huang, K.T. ; Lee, T.-L. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 29 (2008-05-01), S. 509-511
    Online unknown
  7. Gurrum, Siva P. ; Ramakrishna, K. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 25 (2004-10-01), S. 696-698
    Online unknown
  8. Ravaioli, Umberto ; Shu, Chi-Wang ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 13 (1992), S. 26-28
    Online unknown
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
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