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In: IEEE electron device letters, Jg. 44 (2022), Heft 1, S. 140-143Online serialPeriodicalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 43 (2022), Heft 11, S. 1989-1992Online serialPeriodicalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 43 (2022), Heft 8, S. 1347-1350Online serialPeriodicalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 42 (2021), Heft 12, S. 1871-1874Online serialPeriodicalZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 44 (2023), S. 140-143Online unknownZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-11-01), S. 1989-1992Online unknownZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 27 (2006), Heft 3, S. 194-197Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 34 (2013), Heft 10, S. 1325-1327Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-12-01), S. 1871-1874Online unknownZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021), S. 98-101Online unknownZugriff:
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In: IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, Jg. 23 (2002), Heft 12, S. 746-748Online serialPeriodicalZugriff:
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