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In: IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, Jg. 26 (2005), Heft 2, S. 72-74Online serialPeriodicalZugriff:
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In: IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, Jg. 22 (2001), Heft 4, S. 163-165Online serialPeriodicalZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 26 (2005-02-01), S. 72-74Online unknownZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 22 (2001-04-01), S. 163-165Online unknownZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 18 (1997-04-01), S. 154-156Online unknownZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 12 (1991-04-01), S. 169-171Online unknownZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 33 (2012), Heft 3, S. 342-344Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 12 (1991-01-04), Heft 4, S. 169-171Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 32 (2011-02-01), Heft 2, S. 125-127Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 26 (2005-07-01), Heft 7, S. 483-485Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 32 (2011-02-01), S. 125-127Online unknownZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 26 (2005-07-01), S. 483-485Online unknownZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 20 (1999), S. 36-38Online unknownZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 15 (1994-09-01), S. 351-353Online unknownZugriff: