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  1. Zhang, J. ; Xu, J. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 45 (2024-04-01), Heft 4, S. 700-703
    Online academicJournal
  2. Tian, Y. ; Shu, G. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-12-01), Heft 12, S. 1871-1874
    Online academicJournal
  3. Lu, Z. ; Wen, R. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 40 (2019-09-01), Heft 9, S. 1526-1529
    Online academicJournal
  4. Tian, H. ; Shi, N. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. PP, Heft 99, S. 1-1
    academicJournal
  5. Lu, Z. ; Ding, K. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 41 (2020-02-01), Heft 2, S. 284-287
    Online academicJournal
  6. Ulisse, G. ; Krozer, V.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017), Heft 1, S. 126-126
    Online academicJournal
  7. Wan, Y. ; Wang, J. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-05-01), Heft 5, S. 747-750
    Online academicJournal
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