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In: IEEE International Electron Devices Meeting 2004 (IEDM technical digest), 2004, S. 35-38KonferenzZugriff:
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In: IEEE International Electron Devices Meeting 2004 (IEDM technical digest), 2004, S. 763-766KonferenzZugriff:
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In: IEEE International Electron Devices Meeting 2004 (IEDM technical digest), 2004, S. 151-154KonferenzZugriff: