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In: IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, Jg. 6 (2005), S. 5657-5661KonferenzZugriff:
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In: IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, Jg. 1 (2005), S. 448-451KonferenzZugriff:
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In: IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, 2003, Heft 5, S. V-441- (4S.)KonferenzZugriff:
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In: IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, 2003, Heft 5, S. V-269- (4S.)KonferenzZugriff:
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In: IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, Jg. 4 (2002), S. IV-583- (4S.)KonferenzZugriff:
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In: IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, Jg. 6 (2005), S. 6162-6165KonferenzZugriff:
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In: IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, Jg. 6 (2005), S. 6138-6141KonferenzZugriff:
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In: IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, Jg. 6 (2005), S. 5798-5801KonferenzZugriff:
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In: IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, Jg. 6 (2005), S. 5649-5652KonferenzZugriff:
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In: IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, Jg. 6 (2005), S. 5613-5616KonferenzZugriff:
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In: IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, Jg. 6 (2005), S. 5577-5580KonferenzZugriff:
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In: IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, Jg. 6 (2005), S. 5573-5576KonferenzZugriff:
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In: IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, Jg. 6 (2005), S. 5501-5504KonferenzZugriff:
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In: IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, Jg. 6 (2005), S. 5369-5372KonferenzZugriff: