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  1. Ramanathan, S. ; Srinivasan, R. ; et al.
    In: IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON WORKLOAD CHARACTERIZATION, 2003, S. 77-85
    Konferenz
  2. Gast, J. ; Barford, P.
    In: IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON WORKLOAD CHARACTERIZATION, 2003, S. 51-64
    Konferenz
  3. Ahmad, I. ; Anderson, J. M. ; et al.
    In: IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON WORKLOAD CHARACTERIZATION, 2003, S. 65-76
    Konferenz
  4. Djabelkhir, A. ; Seznec, A.
    In: IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON WORKLOAD CHARACTERIZATION, 2003, S. 119-128
    Konferenz
  5. Isci, C. ; Martonosi, M.
    In: IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON WORKLOAD CHARACTERIZATION, 2003, S. 108-118
    Konferenz
  6. Milenkovic, A. ; Milenkovic, M.
    In: IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON WORKLOAD CHARACTERIZATION, 2003, S. 99-107
    Konferenz
  7. Chalainanont, N. ; Nurvitadhi, E. ; et al.
    In: IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON WORKLOAD CHARACTERIZATION, 2003, S. 86-98
    Konferenz
  8. Ramaswamy, R. ; Wolf, T.
    In: IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON WORKLOAD CHARACTERIZATION, 2003, S. 42-50
    Konferenz
  9. Makineni, S. ; Iyer, R.
    In: IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON WORKLOAD CHARACTERIZATION, 2003, S. 33-41
    Konferenz
  10. Black, J. E. ; Wright, D. F. ; et al.
    In: IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON WORKLOAD CHARACTERIZATION, 2003, S. 21-32
    Konferenz
  11. Menasce, D. A. ; Akula, V.
    In: IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON WORKLOAD CHARACTERIZATION, 2003, S. 12-20
    Konferenz
  12. Mathew, B. ; Davis, A. ; et al.
    In: IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON WORKLOAD CHARACTERIZATION, 2003, S. 3-11
    Konferenz
  13. Nogueira, D. ; Rocha, L. ; et al.
    In: IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON WORKLOAD CHARACTERIZATION, 2002, S. 118-126
    Konferenz
  14. Fiskiran, A. M. ; Lee, R. B.
    In: IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON WORKLOAD CHARACTERIZATION, 2002, S. 127-138
    Konferenz
  15. Rajan, A. S. ; Hu, S. ; et al.
    In: IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON WORKLOAD CHARACTERIZATION, 2002, S. 81-90
    Konferenz
  16. Mehis, A. ; Radhakrishnan, R.
    In: IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON WORKLOAD CHARACTERIZATION, 2002, S. 59-70
    Konferenz
  17. Gheewala, A. ; Peir, J. K. ; et al.
    In: IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON WORKLOAD CHARACTERIZATION, 2002, S. 98-108
    Konferenz
  18. Li, Z. ; Xu, R.
    In: IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON WORKLOAD CHARACTERIZATION, 2002, S. 109-117
    Konferenz
  19. Fang, Z. ; McKee, S. A.
    In: IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON WORKLOAD CHARACTERIZATION, 2002, S. 91-97
    Konferenz
  20. Sorenson, E. S. ; Flanagan, J. K.
    In: IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON WORKLOAD CHARACTERIZATION, 2002, S. 23-36
    Konferenz
xs 0 - 576
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