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In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 58 (2023-08-01), Heft 8, S. 2360-2371Online serialPeriodicalZugriff:
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In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 58 (2023), Heft 6, S. 1782-1797Online serialPeriodicalZugriff: